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用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。

题目

用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。

相似考题

1.用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。A、0.9μmB、0C、1.8μm

2.长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法分段检定C、用自准直仪以节距法检定

3.用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

4.用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm

更多“用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或”相关问题

  • 第1题：

    用平晶测量平面度误差时应如何评定？


    正确答案: 应用光学平晶测量小平面，测量时将平晶贴于被测表面上，若被测表面内凹或外凸，就会出现环形干涉带，根据环形干涉带数与光波的半波长的乘积来表示平面度误差。如果干涉条纹不封闭，可使光学平晶与被测表面间略微倾斜一个角度，使两者之间形成一空气楔。这种按干涉带的弯曲度与相邻两干涉带之间的比值，再乘以半波长即得误差值。不过，按此法评定的误差实际上是以直线度误差代替了平面度误差。
    过去用平晶只能测小平面。近年来有了平晶干涉仪，应用这种仪器也可以利用平晶干涉法来测量较大的平面。

  • 第2题：

    检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。


    正确答案:正确

  • 第3题：

    如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？


    正确答案: 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
    检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。

  • 第4题：

    若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。

    • A、用刀口尺以光隙法检定
    • B、用平晶的技术光波干涉法检定
    • C、用刀口尺以量块比较法检定

    正确答案:C

  • 第5题：

    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

    • A、球面干涉
    • B、等倾干涉
    • C、等厚干涉

    正确答案:C

  • 第6题：

    测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？


    正确答案:测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面平行度的检定，所用的平行平晶尺寸为（40~41）mm中依次间隔（0.12~0.13）mm四个尺寸，如40.00、40.12、40.25和40.37mm。

  • 第7题：

    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？


    正确答案:主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。

  • 第8题：

    单选题
    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    问答题
    如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？

    正确答案： 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
    检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。
    A

    用刀口尺以光隙法检定

    B

    用平晶以技术光波干涉法分段检定

    C

    用自准直仪以节距法检定


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    问答题
    用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？

    正确答案： 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度是根据平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时，所产生的干涉条纹数确定。千分尺两测量面的平行度，是以其中一块平行平晶检定时产生干涉条纹数最多的确定。
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。

    • A、准直望远镜
    • B、罐式水平量器
    • C、平晶

    正确答案:C

  • 第14题：

    在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。

    • A、0.001mm
    • B、0.002mm
    • C、0.003mm

    正确答案:B

  • 第15题：

    若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）

    • A、用刀口尺以光隙法检定
    • B、用平晶以技术光波干涉法检定
    • C、用刀口尺以量块比较法检定

    正确答案:C

  • 第16题：

    以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）

    • A、0.03um
    • B、0.05um
    • C、0.10um

    正确答案:C

  • 第17题：

    在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。

    • A、变凹
    • B、变凸
    • C、不变

    正确答案:A

  • 第18题：

    用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？


    正确答案:用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度是根据平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时，所产生的干涉条纹数确定。千分尺两测量面的平行度，是以其中一块平行平晶检定时产生干涉条纹数最多的确定。

  • 第19题：

    用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？


    正确答案: 产生光波干涉的条件是：
    ⑴频率相同的两光波在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差；
    ⑵两光波在相遇点所产生的振动的振幅（强度）相差不悬殊；
    ⑶两光波在相遇点的光程差不能太大，若其光程差大于所用实际光波的相干长度则无干涉现象。

  • 第20题：

    判断题
    用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    判断题
    检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    问答题
    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？

    正确答案： 主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    问答题
    测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？

    正确答案： 测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面平行度的检定，所用的平行平晶尺寸为（40~41）mm中依次间隔（0.12~0.13）mm四个尺寸，如40.00、40.12、40.25和40.37mm。
    解析： 暂无解析

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