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X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
题目
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。
- A、气体
- B、惰性
- C、分析
- D、氧化性
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第1题：
不影响X荧光分析的主要因素有（）。
- A、粒度效应
- B、矿物效应
- C、基体效应
- D、光电效应
正确答案:C -
第2题：
在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应
正确答案: 基体是指样品中除分析元素外的其它组成元素，由于分析元素的受到样品内其它元素的影响，发生强度减弱或增强，从而破坏X射线荧光的强度与浓度的线性关系，这种影响称为基体效应。 -
第3题：
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
正确答案:正确 -
第4题：
X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。
- A、经验系数法
- B、计算法
- C、基本参数法
- D、理论影响系数法
正确答案:A,C,D -
第5题：
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）
- A、定性分析
- B、定量分析
- C、都不是
正确答案:A,B -
第6题：
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
正确答案:正确 -
第7题：
影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。
正确答案:吸收增强效应，物理化学效应 -
第8题：
简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应？如何消除？
正确答案: 在X射线荧光光谱分析中，分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。基体效应包括吸收和增强两种效应。
消除基体效应的方法有稀释法、薄膜样品法、吸收校正法、数学处理方法等。 -
第9题：
背景吸收和基体效应都与试样的基体有关，试分析它们的不同之处。
正确答案:基体效应是指试样在转移、蒸发过程中任何物理因素的变化对测定的干扰效应。背景吸收主要指基体元素和盐分的粒子对光的吸收或散射，而基体效应则主要是由于这些成分在火焰中蒸发或离解时需要消耗大量的热量而影响原子化效率，以及试液的黏度、表面张力、雾化效率等因素的影响。 -
第10题：
问答题简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。正确答案： 基体：就是除待测元素以外的样品本身。基体使得含量Q与荧光强度IK之间呈现非线性关系。
造成这一现象的原因主要有：
吸收—增强效应，在复杂的样品中，元素间的相互影响，引起IK的变化；
非均匀效应，该效应来源于样品的颗粒度、密度、均匀性、湿度等；
表面效应，由于表面不平整，大颗粒样品造成对激发源初级辐射和特征X射线的吸收。
克服或校正基体效应—忽略基体效应
基体匹配法：使用与未知样基体组成相似的标准样品，常常在较窄的浓度范围内或低浓度时与浓度成线性（或二次曲线）
薄试样法：当试样的厚度仅为几百或几千埃时，其基体效应可以忽略
克服或校正基体效应—减小基体效应
使用稀释剂将样品进行高倍稀释和（或）添加重吸收剂，使经处理后的基体处于较为稳定的状态。
克服或校正基体效应—补偿基体效应
内标法：在试样内加入已知量的内标元素，该内标元素的X射线荧光特性应与分析元素相似；在分析元素与内标元素谱线所对应的吸收限之间，不可有主量元素的特征谱线存在。
标准加入法：在未知样中加入一定量的待测元素，比较加入前后试样中待测元素x射线荧光强度的变化；常用于复杂试样中单个元素的测定。
散射比法：试样所产生的特征X射线荧光和试样对原级谱的散射线在波长相近处行为相似，也就是说，它们的强度比与试样无关；所选的散射线可以是：X光管靶材的相干和非相干散射线，试样对原级谱的连续谱的散射（即背景）；所选散射线和待测元素分析线波长之间不可以有主要元素的吸收线，所选散射线有足够的强度。解析： 暂无解析 -
第11题：
问答题背景吸收和基体效应都与试样的基体有关，试分析它们的不同之处。正确答案： 基体效应是指试样在转移、蒸发过程中任何物理因素的变化对测定的干扰效应。背景吸收主要指基体元素和盐分的粒子对光的吸收或散射，而基体效应则主要是由于这些成分在火焰中蒸发或离解时需要消耗大量的热量而影响原子化效率，以及试液的黏度、表面张力、雾化效率等因素的影响。解析： 暂无解析 -
第12题：
问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？正确答案： （1）内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
（2）基体对二者的X射线荧光吸收相近，即基体效应可相互抵消。
（3）原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。解析： 暂无解析 -
第13题：
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
正确答案:错误 -
第14题：
以下说法错误的是（）
- A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人
- B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋
- C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行
- D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
正确答案:A -
第15题：
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
正确答案:错误 -
第16题：
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
正确答案:正确 -
第17题：
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。
- A、粒度效应
- B、吸收
- C、增强
- D、矿物效应
正确答案:A,D -
第18题：
X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
正确答案:Rh -
第19题：
X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么？
正确答案: （1）有足够的代表性；
（2）试样均匀；
（3）表面平整、光洁、无裂纹；
（4）试样有足够的厚度；
（5）在X射线照射及真空条件下，试样稳定不变形，不起化学变化。 -
第20题：
X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
正确答案:正确 -
第21题：
用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
正确答案:（1）内标物中的元素与被测元素的激发X射线波长相近。即内标物元素的原子序数应与被测元素相近。
（2）基体对二者的X射线荧光吸收相近，即基体效应可相互抵消。
（3）原样品中一定不能含有明显数量级的内标元素。 -
第22题：
判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A对
B错
正确答案： 对解析： 暂无解析 -
第23题：
问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？正确答案： 比较标准法、薄膜法和稀释法解析： 暂无解析