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用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整A、直线形B、圆形C、平行的弧线D、直线形、圆形和平行的弧线

题目

用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整

  • A、直线形
  • B、圆形
  • C、平行的弧线
  • D、直线形、圆形和平行的弧线
相似考题

1.千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。

2.若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。A、平B、凸C、凹

3.用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

4.千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。A、四块B、一块C、二块

更多“用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面”相关问题

  • 第1题：

    测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。


    正确答案:越大

  • 第2题：

    用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）

    • A、中凹
    • B、中凸
    • C、平面
    • D、波形

    正确答案:A

  • 第3题：

    用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面

    • A、平
    • B、球
    • C、波形
    • D、倾斜

    正确答案:B

  • 第4题：

    以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）

    • A、0.03um
    • B、0.05um
    • C、0.10um

    正确答案:C

  • 第5题：

    测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？


    正确答案: 用平行平晶检定千分尺两工作面的平行度，是在白光下以技术光波干涉法进行的。由于在白光下呈现的彩色干涉条纹约为7条，即2μｍ，因此平行平晶与千分尺的工作面楔形量不大于2μｍ，检定时，平行平晶与千分尺两工作面的楔形量不一定是对称分布的，而对于测量上限大于100mm的千分尺，其工作面的平行度在4μｍ以上，所以不能用于平行平晶来检定。

  • 第6题：

    用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？


    正确答案: 产生光波干涉的条件是：
    ⑴频率相同的两光波在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差；
    ⑵两光波在相遇点所产生的振动的振幅（强度）相差不悬殊；
    ⑶两光波在相遇点的光程差不能太大，若其光程差大于所用实际光波的相干长度则无干涉现象。

  • 第7题：

    单选题
    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    单选题
    用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整
    A

    直线形

    B

    圆形

    C

    平行的弧线

    D

    直线形、圆形和平行的弧线


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    填空题
    检定千分尺工作面的平行度，可以用（）检定，也可用（）检定。

    正确答案： 平行平晶,量块
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
    A

    球面干涉

    B

    等倾干涉

    C

    等厚干涉


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    问答题
    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？

    正确答案： 主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定
    A

    光波法

    B

    光干涉法

    C

    光条纹法

    D

    干涉条纹法


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定

    • A、光波法
    • B、光干涉法
    • C、光条纹法
    • D、干涉条纹法

    正确答案:B

  • 第14题：

    用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好

    • A、平面度
    • B、平行度
    • C、光洁度
    • D、准确度

    正确答案:A

  • 第15题：

    检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。


    正确答案:正确

  • 第16题：

    用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

    • A、球面干涉
    • B、等倾干涉
    • C、等厚干涉

    正确答案:C

  • 第17题：

    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？


    正确答案:主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。

  • 第18题：

    检定千分尺工作面的平行度，可以用（）检定，也可用（）检定。


    正确答案:平行平晶；量块

  • 第19题：

    单选题
    用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面
    A

    平

    B

    球

    C

    波形

    D

    倾斜


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（）。
    A

    四块

    B

    一块

    C

    二块


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    问答题
    测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？

    正确答案： 用平行平晶检定千分尺两工作面的平行度，是在白光下以技术光波干涉法进行的。由于在白光下呈现的彩色干涉条纹约为7条，即2μｍ，因此平行平晶与千分尺的工作面楔形量不大于2μｍ，检定时，平行平晶与千分尺两工作面的楔形量不一定是对称分布的，而对于测量上限大于100mm的千分尺，其工作面的平行度在4μｍ以上，所以不能用于平行平晶来检定。
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）
    A

    中凹

    B

    中凸

    C

    平面

    D

    波形


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好
    A

    平面度

    B

    平行度

    C

    光洁度

    D

    准确度


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

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