外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法

第1题：

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。

第2题：

怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？

第3题：

在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。

• A、变凹
• B、变凸
• C、不变

第4题：

对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

第5题：

检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？

第6题：

第7题：

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？

第14题：

以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）

• A、0.03um
• B、0.05um
• C、0.10um

第15题：

测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？

第16题：

用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？

第17题：

千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。

第18题：

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：