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更多“铁精矿粉粒度检验方法采用()测定。”相关问题
  • 第1题:

    生产球团矿的含铁原料,除铁精矿粉外,还包括哪些种类?


    正确答案: 除铁精矿粉外,有些从其他热处理加工或者化学加工过程中获得含铁物料也可以单独地或同铁精矿粉混合用来制成球团,这类含铁原料包括:黄铁矿烧渣、轧钢皮、转炉炉尘、高炉炉尘等。一般各种炉尘粒度很细,比表面积大,而烧渣和轧钢皮须细磨后方可造球。

  • 第2题:

    铁精矿粉-200目粒级大于30%为最好粒级。


    正确答案:错误

  • 第3题:

    铁精矿的粒度要求:()目大于80%。


    正确答案:-200

  • 第4题:

    铁精矿粉粒度检验方法采用()测定。


    正确答案:干、湿联合筛析法

  • 第5题:

    铁精矿粉生产标准中,含水量是一项检验指标。()


    正确答案:正确

  • 第6题:

    球团用铁精矿粉的质量要求是()。

    • A、适宜的水份
    • B、适宜的水份和粒度
    • C、较细的粒度
    • D、适宜的水分、粒度和粒度组成

    正确答案:D

  • 第7题:

    铁精矿粉的粒度要求-200网目的大于()%。

    • A、80%
    • B、75%
    • C、30%
    • D、72%

    正确答案:A

  • 第8题:

    铁精矿粉水分过大,并不影响混合料制粒和烧结生产。()


    正确答案:错误

  • 第9题:

    进行细磨铁精矿粉烧结时,石灰石的适宜粒度是()mm。

    • A、0~1
    • B、0~2
    • C、0~3
    • D、3~5

    正确答案:C

  • 第10题:

    奥氏体不锈钢焊缝可以采用射线、磁粉、着色探伤方法进行检验。


    正确答案:错误

  • 第11题:

    我国当前采用的饲料产品粒度测定和表示方法有四种:1、()法;2、()法;3、()法;4、()法。


    正确答案:显微镜;三层筛;四层筛;十五层筛

  • 第12题:

    问答题
    粉体颗粒粒度测定分析的方法有哪些?并说明原理。

    正确答案: (1) 筛分:按照开口直径逐渐降低的顺序将一系列筛网安装在一起,一次操作即可将不同粒度范围的颗粒及其所占的体积或重量百分比的测定完成。适合用于大于37 um的颗粒的表征和分级。
    (2) 沉降法:沉降法测定颗粒尺寸是以Stoke’s方程为基础的。该方程表达了—球形颗粒在层流状态的流体中,自由下降速度与颗粒尺寸的关系。所测得的尺寸为等当stokeˊs直径。沉降法测定颗粒尺寸分布有增值法和累计法两种。依靠重力沉降的方法,一般只能测定>100 nm的颗粒尺寸,因此在用沉降法测定纳米粉体的颗粒时,需借助于离心沉降法。
    (3) 感应区法:感应区法分两种:电阻变化法和光学方法。电阻变化法用于快速测定电解质溶液里颗粒或液滴的粒
    度,适合测定的颗粒直径范围是0.3到700 um;光学原理测量颗粒的粒度,可以测定的粉体颗粒直径范围是0.3到100 um。
    (4) 吸附方法 :可以采用低温气体吸附和溶液吸附方法进行粒度测定。它得到的是粉体的总的表面积,可以根据粉体的总表面积来计算平均颗粒尺寸(假定颗粒的形状和气孔数)。
    (5) X射线小角度散射法:小角度X射线是指X射线衍射中倒易点阵原点附近的相干散射现象。散射角ε大约为十分之几度到几度的数量级。可测的颗粒尺寸为几纳米到几十纳米。
    (6) X射线衍射线线宽法:X射线衍射线线宽法测定的是微细晶粒尺寸。同时,这种方法不仅可用于分散颗粒的测定,也可用于晶粒极细的纳米陶瓷的晶粒大小的测定。衍射线宽度与晶粒度的关系可由谢乐公式表示,谢乐公式的适用范围是微晶的尺寸在1-100nm之间。
    (7) 光学显微镜法:可以将显微镜下的微区照片按一定比例放大来测量颗粒尺寸;也可以将图象传输到一个图象处理系统进行半自动或全自动统计计数。光学显微镜测定的颗粒尺寸范围一般大于0.25 um。
    (8) 透射电子显微镜(TEM):需做成薄片(500nm)或加工成100nm宽的条带,其分辨率大约为3nm。
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    采用()检验方法是对构件的内部检验常用的检验方法。

    • A、磁粉探伤
    • B、非破坏性
    • C、μ射线探伤
    • D、着色

    正确答案:B

  • 第14题:

    简述铁精矿粉的成球机理,并讨论其影响因素。


    正确答案: 铁精粉粒度小,表面能大,存在着以降低表面张力来降低表面能的倾向,易发生吸附现象。含铁粉料多为氧化矿物,易吸附水。其中部分水在微细空隙中产生凹液面,具有将细粒了挤向水滴而凝聚的作用。即毛细水对成球过程的主导作用。加水润湿的同时,机械滚动作用使靠水润湿产生的母球被挤压,毛细结构变化,挤出毛细水,过湿表面又吸附分矿使母球长大。
    形成母球。母球是造球的核心,靠加水润湿产生
    母球长大(机械力+润湿作用)。滚动中压紧→毛细结构变化→挤出毛细水→过湿表面又粘附粉矿→母球长大
    生球压实(机械力作用)。使矿粉颗粒以最紧密方式排列,最大限度发挥水的分子引力、毛细管力以及物料的摩擦阻力,使生球强度大大提高。

  • 第15题:

    一般认为铁精矿的粒度小于200目粒级要占()以上,适宜造球。


    正确答案:80%

  • 第16题:

    耐火原料粒度测定时,检验误差超过()%时,应重新检验。


    正确答案:2

  • 第17题:

    铁水脱磷时喷吹的粉剂是()。

    • A、石灰粉,烧结矿粉
    • B、石灰粉,硅石粉
    • C、萤石粉,铁精矿粉

    正确答案:A

  • 第18题:

    铁精矿粉不用中和就可以进行配料造球。


    正确答案:错误

  • 第19题:

    用含钛矿护炉时,加入方法有()。

    • A、用配加钒钛铁精矿粉的烧结矿入炉
    • B、钒钛块矿直接入炉
    • C、风口喷吹钒钛矿粉
    • D、炮泥中加入钒钛精矿粉

    正确答案:A,B,C,D

  • 第20题:

    烧结用赤铁精矿通常采用的选矿方法为()。

    • A、重选
    • B、磁选
    • C、浮选
    • D、熔烧+磁选

    正确答案:C

  • 第21题:

    烧结所用铁精矿粒度愈()愈易于制粒。

    • A、细
    • B、粗
    • C、适宜

    正确答案:C

  • 第22题:

    粉碎粒度测定常采用()测定粒度。


    正确答案:筛分法

  • 第23题:

    粉体颗粒粒度测定分析的方法有哪些?并说明原理。


    正确答案: (1) 筛分:按照开口直径逐渐降低的顺序将一系列筛网安装在一起,一次操作即可将不同粒度范围的颗粒及其所占的体积或重量百分比的测定完成。适合用于大于37 um的颗粒的表征和分级。
    (2) 沉降法:沉降法测定颗粒尺寸是以Stoke’s方程为基础的。该方程表达了—球形颗粒在层流状态的流体中,自由下降速度与颗粒尺寸的关系。所测得的尺寸为等当stokeˊs直径。沉降法测定颗粒尺寸分布有增值法和累计法两种。依靠重力沉降的方法,一般只能测定>100 nm的颗粒尺寸,因此在用沉降法测定纳米粉体的颗粒时,需借助于离心沉降法。
    (3) 感应区法:感应区法分两种:电阻变化法和光学方法。电阻变化法用于快速测定电解质溶液里颗粒或液滴的粒
    度,适合测定的颗粒直径范围是0.3到700 um;光学原理测量颗粒的粒度,可以测定的粉体颗粒直径范围是0.3到100 um。
    (4) 吸附方法 :可以采用低温气体吸附和溶液吸附方法进行粒度测定。它得到的是粉体的总的表面积,可以根据粉体的总表面积来计算平均颗粒尺寸(假定颗粒的形状和气孔数)。
    (5) X射线小角度散射法:小角度X射线是指X射线衍射中倒易点阵原点附近的相干散射现象。散射角ε大约为十分之几度到几度的数量级。可测的颗粒尺寸为几纳米到几十纳米。
    (6) X射线衍射线线宽法:X射线衍射线线宽法测定的是微细晶粒尺寸。同时,这种方法不仅可用于分散颗粒的测定,也可用于晶粒极细的纳米陶瓷的晶粒大小的测定。衍射线宽度与晶粒度的关系可由谢乐公式表示,谢乐公式的适用范围是微晶的尺寸在1-100nm之间。
    (7) 光学显微镜法:可以将显微镜下的微区照片按一定比例放大来测量颗粒尺寸;也可以将图象传输到一个图象处理系统进行半自动或全自动统计计数。光学显微镜测定的颗粒尺寸范围一般大于0.25 um。
    (8) 透射电子显微镜(TEM):需做成薄片(500nm)或加工成100nm宽的条带,其分辨率大约为3nm。

  • 第24题:

    问答题
    粉体的粒度分布的测定方法有哪些?其测量基准和测量范围是什么?

    正确答案: A.筛分法,以重量为基准,粒度小于100mm而大于0.038mm;
    B.显微镜法(包括光学显微镜和电子显微镜),粒度分布是按颗粒数计算的,光学显微镜通常适用测定大于1um的颗粒,电子显微镜测定的粒度可小至0.001um;
    C.沉降法,在适当介质中使颗粒沉降,以沉降速度测定颗粒粒径,0.5—100um;
    D.库尔特计数器,脉冲大小与颗粒体积成正比,以脉冲大小为基准,0.5—200um激光粒度分析仪,用固体粒子代替小圆屏,假设颗粒呈球形,粒子数很少,不产生多次衍射,以光强大小为基准,2—176um;
    E.透过法,根据流体通过粉体层时的透过性测定粉体比表面积,0.01—100um;吸附法,依据单分子层的吸附量,计算出试样的比表面积,0.003—3um。
    解析: 暂无解析