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独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于300mΩ且初值差不大于50%。
题目
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于300mΩ且初值差不大于50%。
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第1题：
根据《国家电网公司变电运维管理规定》，除独立避雷针外其他部分导通电阻大于100mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%。答案：错解析： -
第2题：
独立避雷针的接地电阻测试值应在(____)以上，当独立避雷针导通电阻值低于此值时，需进行校核测试。100mΩ$; $ 200mΩ$; $ 300mΩ$; $ 500mΩ答案：D解析： -
第3题：
独立避雷针导通电阻低于(____)时应进行校核测试。100mΩ$; $500mΩ$; $250mΩ$; $50mΩ答案：B解析： -
第4题：
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%答案：对解析： -
第5题：
独立避雷针导通电阻低于 （）mΩ时应进行校核测试。50$;$500$;$450$;$550答案：B解析： -
第6题：
独立避雷针导通电阻低于(____)mΩ时应进行校核测试。750$;$500$;$1000$;$1500答案：B解析： -
第7题：
除独立避雷针外其他部分导通电阻大于100mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%答案：B解析： -
第8题：
独立避雷针导通电阻低于( )mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%100$;$500$;$50$;$200答案：B解析： -
第9题：
独立避雷针导通电阻低于（）mΩ时应进行校核测试其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%(A)100 (B)500 (C)50 (D)200答案：B解析： -
第10题：
独立避雷针导通电阻低于（）mΩ时应进行校核测试。
- A、50
- B、500
- C、450
- D、550
正确答案:B -
第11题：
独立避雷针每年进行接地导通检测，导通电阻（）或（）500mΩ时是否进行了校核测试。
- A、小于
- B、大于
- C、等于
- D、以上说法都不对
正确答案:A,C -
第12题：
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于（）且初值差不大于50%。
- A、50mΩ
- B、100mΩ
- C、150mΩ
- D、200mΩ
正确答案:D -
第13题：
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于（ ）且初值差不大于50%。50mΩ$; $100mΩ$; $150mΩ$; $200mΩ答案：D解析： -
第14题：
独立避雷针导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于（）%(A)50 (B)40 (C)55 (D)35答案：A解析： -
第15题：
独立避雷针导通电阻大于500mΩ时应进行校核测试其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%答案：B解析： -
第16题：
独立避雷针的接地电阻测试值应在500mΩ以上，当独立避雷针导通电阻值低于500mΩ时，需进行校核测试答案：A解析： -
第17题：
独立避雷针导通电阻(____)时应进行校核测试。低于500mΩ$;$高于500mΩ$;$低于800mΩ$;$高于800mΩ答案：A解析： -
第18题：
独立避雷针导通电阻低于1000mΩ时应进行校核测试答案：B解析： -
第19题：
独立避雷针导通电阻低于（）时应进行校核测试500mΩ$;$300mΩ$;$400mΩ$;$600mΩ答案：A解析： -
第20题：
独立避雷针导通电阻低于（）时应进行校核测试(A)500mΩ (B)300mΩ (C)400mΩ (D)600mΩ答案：A解析： -
第21题：
接地装置运行一般规定中，独立避雷针导通电阻低于（）mΩ时应进行校核测试其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%(A)500 (B)400 (C)300 (D)200答案：A解析： -
第22题：
（）导通电阻低于500mΩ时应进行校核测试。其他部分导通电阻大于50mΩ时应进行校核测试，应不大于200mΩ且初值差不大于50%。
- A、独立避雷针
- B、构架避雷针
- C、避雷线
- D、避雷器
正确答案:A -
第23题：
独立避雷针每年进行接地导通检测，导通电阻小于或等于500mΩ时是否进行了校核测试。
正确答案:正确