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下列组合错误的是A、RMS--颗粒性B、DQE--噪声等价量子数C、MTF--分辨力D、WS--维纳频谱E、ROC--受试者操作特性曲线

题目

下列组合错误的是

A、RMS--颗粒性

B、DQE--噪声等价量子数

C、MTF--分辨力

D、WS--维纳频谱

E、ROC--受试者操作特性曲线

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1.下列属于主观评价的方法是A.维纳频谱(WS)B.量子检出效率(DQE)C.照片颗粒度均方根值(RMS)D.调制传递函数(MTF)E.观测者操作特性曲线(ROC)

2.下列组合中错误的是A.RMS——颗粒性B.DQE——噪声等价量子数C.MTF——分辨力D.WS——维纳频谱E.ROC—受试者操作特性曲线

3.所谓X线照片噪声,是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合SX所谓X线照片噪声，是指A.荧光体颗粒B.乳剂银颗粒C.银颗粒、荧光体颗粒组合D.X线照片斑点E.X线照片的颗粒度

4.关于X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是A.主观性颗粒质量—肉眼观察获得的颗粒状况B.客观性颗粒质量—物理学检查的颗粒状况C.常用的检测方法有RMS的测量D.常用的检测方法有维纳频谱的测量E.MTF用来测量颗粒度

更多“下列组合错误的是A、RMS－－颗粒性B、DQE－－噪声等价量子数C、MTF－－分辨力D、WS－－维纳频谱E、ROC－－受试者 ”相关问题

  • 第1题：

    关于维纳频谱的叙述，错误的是

    A、维纳频谱即Wiener spectrum，(WS)

    B、△D(x)的自相关函数的付氏变换为WS

    C、用WS分析形成X线照片斑点的原因

    D、维纳频谱可以确定不同频率的RMS

    E、维纳频谱也称量子检出效率


    参考答案：D

  • 第2题：

    噪声等价量子数是

    A、NEQ

    B、DQE

    C、RMS

    D、ROC

    E、SNR


    参考答案：A

  • 第3题：

    下列组合错误的是

    A.RMS-颗粒性
    B.DQE-噪声等价量子数
    C.MTF-分辨力
    D.WS-维纳频谱
    E.ROC-受试者操作特性曲线

    答案：B
    解析：
    DQE是量子检测效率。

  • 第4题：

    对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是

    A、主观性颗粒质量-肉眼观察获得的颗粒状况

    B、客观性颗粒质量-物理学检查的颗粒状况

    C、常用的检测方法有RMS的测量

    D、常用的检测方法有维纳频谱的测量

    E、MTF用米测量颗粒度


    参考答案：E

  • 第5题：

    对X线照片颗粒性测量的叙述，错误的是

    A．主观性颗粒质量——肉眼观察获得的颗粒状况

    B．客观性颗粒质量——物理学检查的颗粒状况

    C．常用的检测方法有RMS的测量

    D．常用的检测方法有维纳频谱的测量

    E．MTF用来测量颗粒度


    正确答案：E
    E。MTF是焦点的调制传递函数。

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