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关于根分叉病变的描述不正确的是A、可用普通的弯探针探查B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙是松动牙

题目

关于根分叉病变的描述不正确的是

A、可用普通的弯探针探查

B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根分叉区

C、检查下颌磨牙时，从颊侧和舌侧中央处分别探查根分叉区

D、X线片的表现常比实际病变轻

E、发生根分叉病变的患牙是松动牙

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1.上颌第一、第二磨牙间形态比较中，不正确的是( )。A、上颌第二磨牙极少有第五牙尖B、上颌第二磨牙的斜嵴不如上颌第一磨牙明显C、上颌第二磨牙近、远中舌尖大小差别不如上颌第一磨牙悬殊D、上颌第二磨牙颊侧两根分叉度较上颌第一磨牙小E、上颌第二磨牙颊根与舌根的分叉度较上颌第一磨牙小

2.患者，男，60岁。诉左下后牙咀嚼疼痛。口腔检查见牙体无明显病变，颊侧牙周袋深6mm，牙龈退缩可见根分叉区完全开放，探针能水平通过分叉区，X线片显示根分叉区完全开放。按Glickman根分叉病变分类法，属于A、Ⅰ类根分叉病变B、Ⅱ类根分叉病变C、Ⅲ类根分叉病变D、Ⅳ类根分叉病变E、正常

3.关于根分叉病变的描述不正确的是A、下颌磨牙的根分叉病变较易探查B、上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入C、上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度D、X线片的表现常比实际病变轻E、发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

4.上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳A.颊倾B.腭侧C.远中D.近中E.以上皆可

更多“关于根分叉病变的描述不正确的是A、可用普通的弯探针探查B、检查上颌磨牙时，先探查颊侧中央处的根 ”相关问题

  • 第1题：

    上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中腭分叉及远中腭分叉为佳

    A．颊侧

    B．腭侧

    C．近中

    D．远中

    E．以上皆可


    正确答案：B

  • 第2题：

    上颌磨牙邻面的根分叉区病变，应用弯探针从哪一面进入，探测近中颊根与腭根之间的根分叉及远中颊根与腭根之间的根分叉为佳

    A.颊侧
    B.腭侧
    C.近中
    D.远中
    E.以上皆可

    答案：B
    解析：

  • 第3题：

    1、下列关于根分叉病变的临床表现及检查方法的描述正确的是

    A．上颌磨牙近远中邻面根分叉探查均从颊侧进入

    B．X线片的表现常比实际病变重

    C．上颌磨牙邻面根分叉的Ⅱ度和Ⅲ度病变很容易区分

    D．发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

    E．发生根分叉病变的患牙早期松动可不明显


    牙周探诊可贯通颊舌根分叉，牙龈覆盖根分叉区

  • 第4题：

    下述上颌第一磨牙牙根描述中错误的是

    A．两根在颊侧

    B．两颊根相距较远

    C．一根在舌侧

    D．远中颊根短小

    E．两颊根间分叉度较小


    正确答案：B

  • 第5题：

    关于根分叉病变的描述不正确的是

    A.下颌磨牙的根分叉病变较易探查
    B.上颌磨牙邻面根分叉探查应从腭侧进入
    C.上颌磨牙邻面根分叉常因邻牙干扰难以区分Ⅱ度或Ⅲ度
    D.X线片的表现常比实际病变轻
    E.发生根分叉病变的患牙一般都是松动牙

    答案：E
    解析：
    受投照角度、组织影像重叠以及骨质破坏形态复杂的影响，根分叉病变的X线表现总比临床实际情况要轻。上颌磨牙的颊侧及下颌磨牙的颊、舌侧分叉一般较易探查。

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