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塞尺又称测微片或厚薄规，是用来测量两个零件配合表面间的间隔。此题为判断题(对，错)。

题目

塞尺又称测微片或厚薄规，是用来测量两个零件配合表面间的间隔。

此题为判断题(对，错)。

相似考题

1.用来测量工件表面配合间隙的工其是()。A、游标卡尺B、螺旋测微器C、塞尺D、卡钳

2.测量零件时,微用力使卡尺的两个量爪微压紧零件表面。()此题为判断题(对，错)。

3.塞尺又称为分测微片,它是一种用来测量()的量具。A、工件表面精度B、工件表面水平度C、两工件表面水平度D、两工件表面配合间隙

4.塞尺在维修中常用来测量零件配合表面的粗糙度。此题为判断题(对，错)。

更多“塞尺又称测微片或厚薄规,是用来测量两个零件配合表面间的间隔。 ”相关问题

  • 第1题：

    塞尺又称测微片,它由许多相同厚度的钢片组成。()

    此题为判断题(对，错)。


    参考答案：错误

  • 第2题：

    塞尺的用途是用以测量配合表面的()。

    A.大小

    B.距离

    C.间隙


    参考答案：C

  • 第3题：

    零件被测表面与量具或量仪测头不接触，表面间不存在测量力的测量方法，称为 。

    A.相对测量

    B.间接测量

    C.非接触测量


    正确答案：C

  • 第4题：

    塞尺用来测量两个零件配合表面的间隙。

    此题为判断题(对，错)。


    正确答案：√

  • 第5题：

    塞尺用来检验两零件结合面之间的()。

    A、配合

    B、过盈

    C、间隙

    D、公差


    参考答案：C

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