采用QS1电桥进行反接线测试tanδ，其工作电压不可超过10kV。A对B错

第1题：

采用QS1电桥进行反接线测试tanδ，其工作电压不可超过10kV。

第2题：

西林电桥测试tanδ时，升压试验一般采用电压等级为110kV的电压互感器。

第3题：

使用QS1型交流电桥测量tanØ时，温度对tanØ测量结果影响很大。绝大多数情况下，对同一被试设备，其tanØ随温度的升高而减少。

第4题：

使用QS1型交流电桥测量tanØ时，现场采用排除电场干扰的方法有以下几种（）

• A、提高试验电压
• B、采用正接线方法
• C、用电桥内部“选相”、“倒相”法接线，排除干扰源对电源相位的干扰
• D、在被试设备上加装屏蔽罩

第5题：

采用QS1电桥测量tanδ，正接线比反接线准确度低。

第6题：

采用QS1电桥测量tanδ，正接线比反接线准确度（）。

• A、低
• B、高
• C、相等

第7题：

使用QS1型交流电桥测量tanØ时，设备温度不同，所测得的tanØ值不同。但可以用一个典型的温度换算系数进行tanØ的温度换算。

第8题：

如果QS1交流电桥的工作电压高于10kv，只能采用（）接线法，并配用（）标准电容器．

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。

第14题：

QS1型西林电桥正接线时电桥桥臂都处于高电位。

第15题：

使用QS1型交流电桥测量tanØ时，现场采用排除磁场干扰的方法有以下几种（）

• A、把电桥移到磁场以外去测量
• B、使检流计极性转换开关处于两种不同位置时，调节电桥平衡，求得每次平衡时的tanØ值和电容值，取两次的平均值为tanØ值
• C、提高试验电压
• D、在被试设备上加装屏蔽罩

第16题：

使用QS1型交流电桥测量tanØ时，造成-tanØ值出现的原因有（）

• A、温度影响
• B、强电场干扰
• C、测量中接线错误
• D、测量有抽取电压装置的电容式套管时，套管表面脏污

第17题：

采用QS1电桥测量tanδ的接线方式一般有差接线及和接线。

第18题：

西林电桥测试tanδ时采用（）时适用于被试品不能与地隔离时的测量。

• A、正接线
• B、反接线
• C、交叉接线

第19题：

测试介质损失角正切时，QS₁型西林电桥有（）种接线方式。

• A、二
• B、三
• C、四
• D、五

第20题：

使用QS1型交流电桥测量tanØ时，应尽量选择与历次试验相近温度条件下进行绝缘tanØ试验。

第21题：

第22题：

第23题：