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内建测试系统(BIS1)是SoC片上系统的重要结构之一,J1AG测试接口是IC芯片测试方法的标准。()此题为判断题(对，错)。

题目
内建测试系统(BIS1)是SoC片上系统的重要结构之一,J1AG测试接口是IC芯片测试方法的标准。()

此题为判断题(对，错)。

相似考题

1.子系统测试方法有:()。A、系统测试和模块测试B、白盒测试和黑盒测试C、功能测试核结构测试D、非渐增式测试和渐增式测试

2.集成测试时，能够较早发现高层模块接口错误的测试方法是______。A) 自底向上渐增式测试方法B) 自顶向下渐增式测试方法C) 非渐增式测试方法D) 系统测试方法A．B．C．D．

3.● 现代电子设计方法包含了可测试设计，其中 （39） 接口是 IC 芯片测试的标 准接口。（39）A. BIST B. JTAG C. UART D. USB

4.集成测试时，能够较早发现高层模块接口错误的测试方法是 ______。A．自底向上渐增式测试方法B．自顶向下渐增式测试方法C．非渐增式测试方法D．系统测试方法

参考答案和解析
参考答案正确
更多“内建测试系统(BIS1)是SoC片上系统的重要结构之一,J1AG测试接口是IC芯片测试方法的标准。() ”相关问题

  • 第1题：

    J1AG测试允许多个器件通过J1AG接口串联在一起形成一个J1AG 链,能实现对各个器件分别测试。()

    此题为判断题(对，错)。


    参考答案对

  • 第2题：

    现代电子设计方法包含了可测试设计，其中(39)接口是IC芯片测试的标准接口。

    A．BIST

    B．JTAG

    C．UART

    D．USB


    正确答案：B
    解析：可测试设计的三个方面是测试生成、测试验证和测试设计。测试生成是指产生验证　IC芯片行为的一组测试码。测试验证指给定测试集合的有效性测度，这通常是通过故障仿真来估算的。测试设计是设计者在电路设计阶段就考虑芯片的测试结构问题，在设计用户逻辑的同时，还要设计测试电路。现代电子设计方法包含可测试设计。内建测试系统(BIST)是SOC片上系统的重要结构之一。JTAG测试接口是IC芯片测试方法的标准。

  • 第3题：

    集成测试时，能较早发现高层模块接口错误的测试方法是（）。

    A．自顶向下渐增式测试

    B．自底向上渐增式测试

    C．非渐增式测试

    D．系统测试


    B

  • 第4题：

    关于测试类型的应用范围,下面哪个是正确的()

    A.结构测试只能用在组件测试或集成测试

    B.功能测试只能用在系统测试或验收测试

    C.白盒测试方法不能用于系统测试

    D.功能测试和结构性测试可以应用在任何测试级别


    参考答案：D

  • 第5题：

    使用程序设计的控制结构导出测试用例的测试方法是（ ）。

    A.黑盒测试
    B.白盒测试
    C.边界测试
    D.系统测试

    答案：B
    解析：
    白盒测试是一种测试用例设计方法，盒子指的是被测试的软件，白盒指的是盒子是可视的，你清楚盒子内部的东西以及里面是如何运作的。"白盒"法全面了解程序内部逻辑结构、对所有逻辑路径进行测试。"白盒"法是穷举路径测试。在使用这一方案时，测试者必须检查程序的内部结构，从检查程序的逻辑着手，得出测试数据。

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