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关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

题目

关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。

A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态

B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态

C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态

D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,

E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态


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  • 第1题:

    关于统计控制状态的谫法,正确的有( )。

    A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内

    B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布

    C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态

    D.统计控制状态是指过程能力充足的状态

    E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态


    正确答案:ABC
    统计控制状态下的过程并不一定过程能力充足。

  • 第2题:

    关于统计控制状态,下列说法正确的有( )。

    A.统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态

    B.控制状态是生产追求的目标,因为在控制状态下,对产品的质量有完全的把握

    C.通常控制图的控制界限都在规范限之内,故至少有99.73%的产品是合格品

    D.在控制状态下生产的不合格品最少,生产最经济

    E.统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态


    正确答案:ABCD
    解析:统计控制状态(简称控制状态)是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态。控制状态是生产追求的目标,在控制状态下的好处有:①对产品的质量有完全的把握(通常控制图的控制界限都在规格限之内,故至少有的99.73%的产品是合格的);②在控制状态下生产的不合格品最少,生产最经济;③在控制状态下,过程的变异最小。

  • 第3题:

    关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。
    A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态
    B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态
    C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进
    D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力
    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态


    答案:B,D
    解析:
    。选项E错误,当控制图上所有点子都落在控制限内,且随机排列时,才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第4题:

    统计控制状态达到,技术控制状态未达到的是( )。A.状态I B.状态II C.状态III D.状态IV


    答案:C
    解析:
    根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态,可以将它们分为四种情况:①状态I。统计控制状态与技术控制状态同时达到,是最理想的状态。②状态II。统计控制状态未达到,技术控制状态达到。③状态III。统计控制状态达到,技术控制状态未达到。④状态IV。统计控制状态与技术控制状态均未达到,是最不理想的状态。

  • 第5题:

    加工一种轴承,其规格为(10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
    下列推断中,正确的是( )。
    A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
    B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态
    C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态
    D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态


    答案:B
    解析:
    。分析用控制图上未显示异常,表明过程处于统计控制状态。Cpk=2/3

  • 第6题:

    关于统计控制状态的说法,正确的有( )。

    A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内

    B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布

    C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态

    D.统计控制状态是指过程能力充足的状态

    E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态


    答案:A,B,C
    解析:
    。统计控制状态下的过程并不一定过程能力充足。

  • 第7题:

    加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:
    μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
    根据上述计算结果,判断过程()。
    A.处于统计控制状态和技术控制状态
    B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态
    C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态
    D.未处于统计控制状态和技术控制状态


    答案:B
    解析:

  • 第8题:

    多选题
    根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态,可将状态分为(  )。
    A

    状态Ⅰ,统计控制状态与技术控制状态同时达到,是最理想的状态

    B

    状态Ⅱ,统计控制状态未达到,技术控制状态达到

    C

    状态Ⅲ,统计控制状态达到,技术控制状态未达到

    D

    状态Ⅳ,统计控制状态与技术控制状态均未达到,是最不理想的状态

    E

    状态Ⅴ,统计控制状态永远无法达到,技术控制状态始终能够达到


    正确答案: E,C
    解析: 暂无解析

  • 第9题:

    单选题
    以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()
    A

    过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态

    B

    过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动

    C

    过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内

    D

    过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    单选题
    加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm 根据以上材料,回答:下列论述正确的是()。
    A

    过程处于统计控制状态和技术控制状态

    B

    过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态

    C

    过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态

    D

    过程未处于统计控制状态和技术控制状态


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    单选题
    分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种()的控制线延长能作为控制用的控制图。
    A

    状态Ⅰ:统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态

    B

    状态Ⅱ:统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态

    C

    状态Ⅲ:统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态

    D

    状态Ⅳ:统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态


    正确答案: C
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    多选题
    关于统计控制状态,下列说法正确的有(  )。
    A

    统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态

    B

    控制状态是生产追求的目标,因为在控制状态下,对产品的质量有完全的把握

    C

    通常控制图的控制界限都在规范限之内,故至少有99.73%的产品是合格品

    D

    在控制状态下生产的不合格品最少,生产最经济

    E

    统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态


    正确答案: C,A
    解析:
    统计控制状态(简称控制状态)是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态。控制状态是生产追求的目标,在控制状态下的好处有:①对产品的质量有完全的把握(通常控制图的控制界限都在规格限之内,故至少有的99.73%的产品是合格的);②在控制状态下生产的不合格品最少,生产最经济;③在控制状态下,过程的变异最小。

  • 第13题:

    过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态称为( )。

    A.会计控制状态

    B.会计与统计控制状态

    C.统计控制状态

    D.会计或统计控制状态


    正确答案:C
    解析:统计控制状态简称控制状态,是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态。

  • 第14题:

    关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。

    A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品

    B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1

    C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态

    D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动

    E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的


    正确答案:CDE
    过程处于统计控制状态时,过程能力有可能不满足要求,所以选项A、B错误。

  • 第15题:

    过程处于统计控制状态,则( )。
    A.过程中只有偶然因素,没有异常因素
    B.过程中只有异常因素,没有偶然因素
    C.过程能力指数未必满足要求
    D.应继续判断过程是否达到技术控制状态
    E.控制图中的点都集中在中心线附近的C区


    答案:A,C,D
    解析:
    统计控制状态,简称控制状态,是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态。 过程能力指数的前提是稳态,σ表示过程离散程度,反映了产品加工质量;T是已确定的技术标准,不能由操作人员改变;σ越小,过程能力指数越大,当大到一定程度,经济上未必可行,所以并不是σ的值越小越好,过程能力指数未必满足要求,应继续判断过程是否达到技术控制状态。

  • 第16题:

    分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态,( )的控制线延长能作为控制用的控制图。
    A.状态I,统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态
    B.状态II,统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态
    C.状态III,统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态
    D.状态IV,统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态


    答案:A
    解析:
    状态IV是现场所不能容忍的,需要加以调整,使之逐步达到状态I。统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态,是最理想的状态,在生产线的末道工序一般以保持状态I为宜。过程达到了所确定的状态后,才能将分析用控制图的控制线延长作为控制用控制图。

  • 第17题:

    关于过程状态的说法,正确的有( )。

    A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小

    B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变

    C.过程处于统计控制状态时,CP≥1

    D.异常因素会导致过程失控

    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态


    答案:A,B,D
    解析:
    。处于统计控制状态,只是表明此时可估计过程保证质量的水平,但不能说明过程能力指数大于等于1。选项E错误,当控制图上所有点子都落在控制限内时,且随机排列时,才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第18题:

    在过程控制中,最理想的状态是( )。
    A.统计控制状态达到,技术控制状态未达到
    B.统计控制状态未达到,技术控制状态达到
    C.统计控制状态与技术控制状态均达到
    D.统计控制状态与技术控制状态均未达到


    答案:C
    解析:

  • 第19题:

    以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()

    • A、过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态
    • B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动
    • C、过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内
    • D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

    正确答案:C

  • 第20题:

    多选题
    过程处于统计控制状态,则(  )。[2008年真题]
    A

    过程中只有偶然因素,没有异常因素

    B

    过程中只有异常因素,没有偶然因素

    C

    过程能力指数未必满足要求

    D

    应继续判断过程是否达到技术控制状态

    E

    控制图中的点都集中在中心线附近的C区


    正确答案: B,C
    解析:
    统计控制状态,简称控制状态,是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态。过程能力指数的前提是稳态,σ表示过程离散程度,反映了产品加工质量;T是已确定的技术标准,不能由操作人员改变;σ越小,过程能力指数越大,当大到一定程度,经济上未必可行,所以并不是σ的值越小越好,过程能力指数未必满足要求,应继续判断过程是否达到技术控制状态。

  • 第21题:

    单选题
    统计控制状态达到,技术控制状态未达到的是(  )。
    A

    状态Ⅰ

    B

    状态Ⅱ

    C

    状态Ⅲ

    D

    状态Ⅳ


    正确答案: D
    解析:
    根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态,可以将它们分为四种情况:①状态Ⅰ。统计控制状态与技术控制状态同时达到,是最理想的状态。②状态Ⅱ。统计控制状态未达到,技术控制状态达到。③状态Ⅲ。统计控制状态达到,技术控制状态未达到。④状态Ⅳ。统计控制状态与技术控制状态均未达到,是最不理想的状态。

  • 第22题:

    单选题
    分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态,(  )的控制线延长能作为控制用的控制图。
    A

    状态Ⅰ,统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态

    B

    状态Ⅱ,统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态

    C

    状态Ⅲ,统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态

    D

    状态Ⅳ,统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态


    正确答案: A
    解析:
    状态Ⅳ是现场所不能容忍的,需要加以调整,使之逐步达到状态Ⅰ。统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态,是最理想的状态,在生产线的末道工序一般以保持状态Ⅰ为宜。过程达到了所确定的状态后,才能将分析用控制图的控制线延长作为控制用控制图。

  • 第23题:

    单选题
    在过程控制中,最理想的状态是(  )。
    A

    统计控制状态达到,技术控制状态未达到

    B

    统计控制状态未达到,技术控制状态达到

    C

    统计控制状态与技术控制状态均达到

    D

    统计控制状态与技术控制状态均未达到


    正确答案: B
    解析: 暂无解析