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在涡流探伤仪中实现阻抗分析法的主要单元是（）。A、标记器B、放大器C、相敏检波器D、记录器
题目
在涡流探伤仪中实现阻抗分析法的主要单元是（）。
- A、标记器
- B、放大器
- C、相敏检波器
- D、记录器
相似考题
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第1题：
在涡流探伤仪中实现调制分析法的主要单元是（）。
- A、扫描电路
- B、报警电路
- C、选通电路
- D、滤波电路
正确答案:D -
第2题：
下列哪一种方法不能用在涡流检测中？（）
- A、脉冲反射法
- B、阻抗分析法
- C、相位分析法
- D、调制分析法
正确答案:A -
第3题：
涡流探伤仪检测线圈直接影响到检测结果，主要体现在哪些方面？
正确答案: 1）检测线圈的磁场分布；
2）检测线圈的电感和感抗；
3）检测线圈的提离效应和填充系数；
4）检测线全队各种缺陷和各种材料特性变化的相应。 -
第4题：
多频涡流探伤仪是近些年发展起来的新技术，能解决一些用传统单频涡流探伤仪所不能发解决的问题。
正确答案:正确 -
第5题：
涡流探伤仪中功率放大器的作用是将涡流信号进行（）
正确答案:功率放大 -
第6题：
涡流探伤仪综合性能测试的内容是什么？
正确答案:信噪比、周向灵敏度差、漏、误报率、管端不可探区、稳定性 -
第7题：
单选题下列哪一种方法不能用在涡流检测中？（）A脉冲反射法
B阻抗分析法
C相位分析法
D调制分析法
正确答案： D解析： 暂无解析 -
第8题：
填空题在探伤中采用多通道涡流探伤仪的目的是（）正确答案： 加快检测速度解析： 暂无解析 -
第9题：
单选题涡流探伤仪中给探头提供激励电流的单元是（）。（）。A移相器和相敏检波器
B振盈器和功率放大器
C高、低通滤波器
D示波器和报警器
正确答案： A解析： 暂无解析 -
第10题：
填空题涡流探伤仪中功率放大器的作用是将涡流信号进行（）正确答案： 功率放大解析： 暂无解析 -
第11题：
判断题多频涡流探伤仪是近些年发展起来的新技术，能解决一些用传统单频涡流探伤仪所不能发解决的问题。A对
B错
正确答案： 错解析： 暂无解析 -
第12题：
单选题在涡流探伤仪中实现调制分析法的主要单元是（）。A扫描电路
B报警电路
C选通电路
D滤波电路
正确答案： D解析： 暂无解析 -
第13题：
涡流探伤仪的主要用途有哪些？
正确答案:探伤、测厚、测量几何尺寸、测定物理性能等许多方面，特别适用于管材。 -
第14题：
简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？
正确答案:涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。 -
第15题：
在探伤中采用多通道涡流探伤仪的目的是（）
正确答案:加快检测速度 -
第16题：
涡流探伤仪在测试漏、误报率时，要将标准试件连续测试（）次。
正确答案:25 -
第17题：
涡流探伤仪检测线圈的功能是什么？
正确答案:1）激励功能
2）测量功能 -
第18题：
填空题目前在大多数涡流探伤仪中使用的是（）显示器。正确答案： CRT解析： 暂无解析 -
第19题：
填空题涡流探伤仪在测试漏、误报率时，要将标准试件连续测试（）次。正确答案： 25解析： 暂无解析 -
第20题：
单选题在涡流探伤仪中实现阻抗分析法的主要单元是（）。A标记器
B放大器
C相敏检波器
D记录器
正确答案： D解析： 暂无解析 -
第21题：
问答题涡流探伤仪的主要用途有哪些？正确答案： 探伤、测厚、测量几何尺寸、测定物理性能等许多方面，特别适用于管材。解析： 暂无解析 -
第22题：
问答题简述涡流检测时，有哪些主要因素会影响线圈阻抗？正确答案： 涡流检测时，影响试验线圈阻抗的主要因素可从如下特性函数中表现出来：1－η＋μrμ
相对磁导率；μeffeff式中：η--填充系数；μr----有效磁导率。即影响试验线圈阻抗的主要因素有：电导率、磁导率、试件的形状尺寸、缺陷及试验频率等。电导率：如果电导率σ变，则特征频率ｆg变[ｆg=1/（2πμσα），α是试件半径]，贝塞尔函数的变量变，有效磁导率变，试验线圈阻抗变。电导率的变化，在阻抗图中影响阻抗值在曲线上的位置。磁导率：非磁性材料，因为μr近似为1，所以对阻抗无影响；磁性材料，因为μr远大于1，所以直接影响有效磁导率值、特征函数值和阻抗值。磁性材料试件的阻抗随相对磁导率μr值的增大而增大。试件几何尺寸：试件几何尺寸通常以直径（或半径）描述。试件直径的变化，不仅影响有效磁导率（分析参见电导率分析），而且影响填充系数。因此，试件几何尺寸对试验线圈阻抗的影响是双重的。缺陷：缺陷对试验线圈阻抗的影响可以看作是电导率、几何尺寸两个参数影响的综合结果。由于试件中裂纹位置、深度和形状的综合影响结果，使缺陷对试验线圈阻抗的影响无法进行理论计算，通常是借助于模型进行实验。试验频率：试验频率对试验线圈阻抗的影响表现在频率比ｆ／ｆg上，由于有效磁导率是以频率比ｆ／ｆg为参变量的，随着试验频率的不同，试验线圈在曲线上的位置发生改变。解析： 暂无解析 -
第23题：
单选题为了区分各种因素对涡流的影响，在涡流探伤仪中应特别重视（）。A信号放大
B信号处理
C信号显示
D信号报警
正确答案： C解析： 暂无解析