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锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，宽度较大

题目

锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）

  • A、反射波峰尖锐
  • B、反射波稳定但较波幅低
  • C、反射波幅低，宽度较大
相似考题

1.尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（ ）。A.呈75°角且平滑的缺陷B.呈75°角且粗糙的缺陷C.呈90°角且平滑的缺陷D.相垂直且粗糙的缺陷

2.尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（）。A、呈75°角且平滑的缺陷B、呈75°角且粗糙的缺陷C、呈90°角且平滑的缺陷D、相垂直且粗糙的缺陷

3.锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低，回波包络宽度较大

4.锻件探伤时，若材料中存在白点，其特征为()A.回波清晰、尖锐 B.缺陷的区域较大且集中于工件中心部位 C.会造成底波衰减 D.以上都是

参考答案和解析
正确答案:C
更多“锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高”相关问题

  • 第1题：

    大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）

    • A、锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行
    • B、探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面
    • C、锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强
    • D、以上三种原因都是

    正确答案:D

  • 第2题：

    用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（）

    • A、可不考虑探伤面耦合差补偿
    • B、可采用计算法或AVG曲线法
    • C、可不使用试块
    • D、可不考虑材质衰减修正

    正确答案:D

  • 第3题：

    锻件探伤中，如缺陷引起底波明显（）时，说明锻件中存在较严重的缺陷。


    正确答案:下降或消失

  • 第4题：

    用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的（）缺陷，后者有利于检出（）缺陷。


    正确答案:纵向；横向

  • 第5题：

    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。

    • A、平行且靠近探测面
    • B、与声束方向平行
    • C、与探测面成较大角度
    • D、平行且靠近底面

    正确答案:C

  • 第6题：

    单选题
    锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
    A

    反射波峰尖锐

    B

    反射波稳定但较波幅低

    C

    反射波幅低，宽度较大


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第7题：

    单选题
    大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）
    A

    锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行

    B

    探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面

    C

    锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强

    D

    以上三种原因都是


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第8题：

    单选题
    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。
    A

    平行且靠近探测面

    B

    与声速方向平行

    C

    与探测面成较大角度

    D

    平行且靠近底面


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。
    A

    平行且靠近探测面

    B

    与声束方向平行

    C

    与探测面成较大角度

    D

    平行且靠近底面


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    单选题
    方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）
    A

    平行且靠近探测面

    B

    与声束方向平行

    C

    与探测面成较大角度

    D

    平行且靠近底面


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    分割式探头主要用来（）。
    A

    探测离探伤面远的缺陷

    B

    探测离探伤面近的缺陷

    C

    探测与探伤面平行的缺陷


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    判断题
    锻件探伤中，如缺陷引起底波明显下降或消失时，说明锻件中存在较严重的缺陷。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    锻件探伤时，若材料中存在白点，其特征为（）

    • A、回波清晰、尖锐
    • B、缺陷的区域较大且集中于工件中心部位
    • C、会造成底波衰减
    • D、以上都是

    正确答案:D

  • 第14题：

    对一个未加工的粗糙锻件进行磁粉探伤时，发现一个向各个方向延伸的显示。显示看起来垂直于表面，延伸至工件深处且非常清晰。这缺陷可能是（）。

    • A、锻裂
    • B、折叠
    • C、白点
    • D、缝隙

    正确答案:A

  • 第15题：

    锻件探伤时，如缺陷引起底波明显下降或消失，说明锻件中存在较严重的缺陷。


    正确答案:正确

  • 第16题：

    以相同的探测灵敏度探测粗晶铸件或经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，在相同深度时缺陷的回波高度也一样，则两者的缺陷铸件中的大。


    正确答案:正确

  • 第17题：

    在焊缝探伤中若母材与焊缝金属结合面没有缺陷时能否产生回波？为什么？


    正确答案: 不能产生回波，是因为普通碳钢焊缝的母材与焊接金属之间的声阻抗相差很小，声压几乎全透射无反射，所以不会产生回波。

  • 第18题：

    单选题
    用底波法调节锻件探伤灵敏度时，下面有关缺陷定量的叙述中哪点是错误的？（）
    A

    可不考虑探伤面耦合差补偿

    B

    可采用计算法或AVG曲线法

    C

    可不使用试块

    D

    可不考虑材质衰减修正


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第19题：

    填空题
    用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的（）缺陷，后者有利于检出（）缺陷。

    正确答案： 纵向,横向
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    锻件探伤中，若缺陷垂直于探测面，且缺陷稍有曲折或较粗糙时，若采用高灵敏度探伤，其反射波特征是（）
    A

    反射波峰尖锐

    B

    反射波稳定但较波幅低

    C

    反射波幅低，回波包络宽度较大


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    在A型探伤中，F波幅度较高，与T波的距离较接近，说明（）。
    A

    缺陷横截面积较大，且较接近探测表面

    B

    缺陷横截面积较大，且较接近底面

    C

    缺陷横截面积较小，但较接近探测表面

    D

    缺陷横截面积较小，但较接近底面


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    判断题
    锻件探伤时，如缺陷引起底波明显下降或消失，说明锻件中存在较严重的缺陷。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    锻件探伤时，若材料中存在白点，其特征为（）
    A

    回波清晰、尖锐

    B

    缺陷的区域较大且集中于工件中心部位

    C

    会造成底波衰减

    D

    以上都是


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

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