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更多“用QS1型西林电桥测量介损时,怎样选择分流器位置?若被试品电容量”相关问题
  • 第1题:

    采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时,若试品的电容量较小,测量中出现负值,一定是存在着电场干扰。


    正确答案:错误

  • 第2题:

    QS1电桥内有一套低压电源和低压标准电容器,可测量电容量为300PF~100μF的试品。


    正确答案:正确

  • 第3题:

    在QS1型西林电桥测量操作中,若分流器档位设置电流值较大于试品实际电流值,则电桥的调节值需趋向最高值,电桥R3才能趋向平衡。


    正确答案:正确

  • 第4题:

    当被试品电容量很小,测量其介损tgδ时,介损仪的高压引线与被试品的杂散电容对测量的影响不可忽视。


    正确答案:正确

  • 第5题:

    使用QS1交流电桥测量试品的电容量约为15000pF,加压10kV,电桥分流器的位置选择哪一档为宜()。

    • A、0.01
    • B、0.025
    • C、0.06
    • D、0.15

    正确答案:C

  • 第6题:

    用QS1电桥测量110kV套管介损tgδ值时,试验电压为10kV,标准电容CN为50pF;电桥平衡时,R3=345Ω,试计算Cx之值。(R4为定值3184Ω)


    正确答案: 由已知条件:CN=50pF,R3=345Ω,再由电桥计算公式解得Cx值为461.4pF。

  • 第7题:

    测量tgδ时,为何要选择QS1电桥的分流位置?


    正确答案: ①在使用电桥过程中,若分流电阻选择不当,很可能损坏R3的各电阻元件,②因为通过被试品的全部电流要由分流电阻和R3分别承担。

  • 第8题:

    用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。


    正确答案:错误

  • 第9题:

    使用QS1电桥时,根据试品电容量估算R3的值,若R3偏大很多时,电桥才趋于平衡,试问故障原因和如何检查?


    正确答案: ①故障原因可能是R3桥臂有分流现象或CX电路内有断线现象。
    ②检查和消除方法:检查电桥CX引线有无分流或断线,检查R3桥臂电阻值是否与实际相符,若不相符,则应打开电桥检查分流器开关是否正常。

  • 第10题:

    判断题
    用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    判断题
    在QS1型西林电桥测量操作中,若分流器档位设置电流值较大于试品实际电流值,则电桥的调节值需趋向最高值,电桥R3才能趋向平衡。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    判断题
    在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。


    正确答案:错误

  • 第14题:

    适用QSI型西林电桥测量试品tg∮,接通或断开电源时,检流计灵敏度应在中间位置。


    正确答案:错误

  • 第15题:

    为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用正接线好?


    正确答案: 小电容(小于500pF)试品主要有电容型套管、电容型电流互感器等。对这些试品采用QS1型西林电桥的正、反接线进行测量时,其介质损耗因数的测量结果是不同的。其原因分析如下。
    按正接线测量一次对二次或一次对二次及外壳(垫绝缘)的介质损耗因数,测量结果是实际被试品一次对二次及外壳绝缘的介质损耗因数。而一次与顶部周围接地部分之间的电容和介质损耗因数均被屏蔽掉(电桥正接线测量时,接地点是电桥的屏蔽点)。为了在现场测试方便,可直接测量一次对二次的绝缘介质损耗因数,便可以灵敏地发现其进水受潮等绝缘缺陷,而按反接线测量的是一次对二次及地的介质损耗因数值。由于试品本身电容小,而一次与顶部对周围接地部分之间的电容所占的比例相对就比较大,也就对测量结果(反接线测量的综合介质损耗因数)有较大的影响。
    由于正接线具有良好的抗电场干扰,测量误差较小的特点,一般应以正接线测量结果作为分析判断绝缘状况的依据。

  • 第16题:

    测量绝缘介损的仪器按原理可以分为()。

    • A、西林电桥
    • B、电流比较型电桥
    • C、M型电桥
    • D、直流电流电压法电桥

    正确答案:A,B,C

  • 第17题:

    测量介损tgδ和测量绝缘电阻一样,试品的表面泄漏对测量结果有一定影响,并且()。

    • A、试品电容量较大,影响较小
    • B、试品电容量较大,影响较大
    • C、与试品电容量无关

    正确答案:A

  • 第18题:

    使用QS1交流电桥测量试品的电容量约为1500PF、加压10kV,电桥分流器的位置选择()档为宜。

    • A、0.01
    • B、0.025
    • C、0.06
    • D、0.15

    正确答案:A

  • 第19题:

    在QSI型西林电桥测量操作中,若分流器档位设置电流值较大于试品实际电流值,则电桥R3的调节值需趋向最高限值,电桥才能趋抽平衡。


    正确答案:正确

  • 第20题:

    用QS1电桥测量变压器套管连同绕组一起的介损tgδ,应采用何种接线?如何接线?


    正确答案: 应采用反接线。
    测量时非被试绕组应短路接地,被试绕组三相要短接。

  • 第21题:

    用QS1型西林电桥测tgδ时的操作要点有哪些?


    正确答案: 用QS1型西林电桥测tgδ的操作要点如下:
    (1)接线经检查无误后,将各旋钮置于零位,确定分流器档位;
    (2)接通光源,加试验电压,并将“+tgδ”转至“接通I”位置;
    (3)增加检流计灵敏度,旋转调谐钮,找到谐振点,再调R3、C4使光带缩小;
    (4)提高灵敏度,再按顺序反复调节R3、C4及P,使灵敏度达最大时光带最小,直至电桥平衡;
    (5)读取电桥测量读数,将检流计灵敏度降至零位,降下试验电压,切断电源,将高压接地放电。

  • 第22题:

    单选题
    试品电容量约为15000pF,当用10kVQS1型西林电桥测量其tgδ及C时,电桥分流器档位宜设置在()档
    A

    0.01

    B

    0.025

    C

    0.06

    D

    0.15


    正确答案: A
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    单选题
    试品电容量约15000pF,使用QS1型西林电桥,施加10kV测量其tgδ时,电桥分流器位置宜选定在()档位置
    A

    0.01

    B

    0.025

    C

    0.06

    D

    0.15


    正确答案: A
    解析: 暂无解析