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影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、（）、（）

题目

影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、（）、（）

相似考题

1.X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。

2.简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？

3.在X荧光分析中，以下样品的哪个因素不属于物理效应。（）A、样品的粒度B、不均匀性C、表面结构D、化学价态

4.影响X射线荧光光谱分析的主要因素有:()、()和()三大方面。

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  • 第1题：

    X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。


    正确答案:错误

  • 第2题：

    在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。

    • A、均匀性
    • B、粒度效应
    • C、辐射
    • D、吸收-增强效应

    正确答案:B,D

  • 第3题：

    原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）

    • A、原子荧光分析法
    • B、X射线荧光分析法
    • C、X射线吸收分析法
    • D、X射线发射分析法

    正确答案:B

  • 第4题：

    X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。


    正确答案:错误

  • 第5题：

    X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。


    正确答案:正确

  • 第6题：

    采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。


    正确答案:矿物效应

  • 第7题：

    X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。


    正确答案:错误

  • 第8题：

    在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。


    正确答案:正确

  • 第9题：

    由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。

    • A、光子
    • B、荧光
    • C、光谱
    • D、线束

    正确答案:B

  • 第10题：

    X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。


    正确答案:标准样品

  • 第11题：

    进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。


    正确答案:正确

  • 第12题：

    多选题
    对交流隔离开关及接地开关触头镀银层厚度检测时，样品放置应满足（）
    A

    从正面看，X射线荧光接收器在所放样品位置的左边

    B

    从正面看，X射线荧光接收器在所放样品位置的右边

    C

    样品放置，应保证X射线荧光不受干扰地到达探测器

    D

    样品放置位置关系不大，只要能满足聚焦清晰即可


    正确答案： A,C
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。


    正确答案:正确

  • 第14题：

    台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。


    正确答案:正确

  • 第15题：

    X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？


    正确答案: 对分析面的要求是表面平整、纹路一致、光洁度高、无气孔、无裂纹、无夹渣。

  • 第16题：

    X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）


    正确答案:X射线荧光强度

  • 第17题：

    X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）

    • A、定性分析
    • B、定量分析
    • C、都不是

    正确答案:A,B

  • 第18题：

    在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。


    正确答案:正确

  • 第19题：

    X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。


    正确答案:刚玉

  • 第20题：

    在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。

    • A、一次X射线
    • B、二次X射线
    • C、次级射线
    • D、X荧光

    正确答案:A

  • 第21题：

    影响X射线强度的主要因素有基体效应、不均匀效应和谱线干扰。


    正确答案:正确

  • 第22题：

    X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。


    正确答案:错误

  • 第23题：

    问答题
    分析下列荧光辐射产生的可能性，为什么？（1）用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射；（2）用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射；（3）用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

    正确答案： 根据经典原子模型，原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，在稳定状态下，每个壳层有一定数量的电子，他们有一定的能量。最内层能量最低，向外能量依次增加。
    根据能量关系，M、K层之间的能量差大于L、K成之间的能量差，K、L层之间的能量差大于M、L层能量差。由于释放的特征谱线的能量等于壳层间的能量差，所以Kß的能量大于Ka的能量，Ka能量大于La的能量。
    因此在不考虑能量损失的情况下：
    （1）CuKa能激发CuKa荧光辐射；（能量相同）
    （2）CuKß能激发CuKa荧光辐射；（Kß>KA.
    （3）CuKa能激发CuLa荧光辐射；（Ka>lA.
    解析： 暂无解析

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