第1题:
液浸探伤时,采用()方法可消除探头近场的影响
第2题:
采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。
第3题:
用单晶片探头探伤时,探头只能发射或接收超声波。
第4题:
接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。
第5题:
在超声波探伤中,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径()的探头。
第6题:
采用接触法超探,探测距离大时,为获得较集中的能量,应选用()直径的晶片。
第7题:
采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤
将接触法探伤改为液浸法探伤
采用小直径探头探伤
以上都是
第8题:
第9题:
接触法单探头
水浸法聚焦探头
接触法双探头
水浸法平探头
第10题:
斜射法
水浸法
接触法
穿透法
第11题:
低频率
较小晶片
低频率和较小晶片
较大晶片
第12题:
第13题:
单晶片探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为盲区。
第14题:
接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。
第15题:
超声波探伤,为减少近场长度应选用()的探头.
第16题:
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。
第17题:
超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或直径()的探头。
第18题:
超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。
第19题:
第20题:
对
错
第21题:
第22题:
接触法横波单探头
水浸法聚焦探头
接触法纵波单探头
接触法联合双探头
第23题:
第24题: