第1题:
对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录,同时应用草图 标示。
第2题:
按照JB/T4730.5-2005的规定,缺陷的显示记录可采用()、()、()等方式记录,同时用草图标示。
第3题:
JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。
第4题:
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。
第5题:
按照NB/T47013.5-2015的规定,缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录,同时用草图标示()
第6题:
JB/T4730标准规定,磁痕显示分为相关显示、非相关显示和()
第7题:
第8题:
第9题:
对
错
第10题:
第11题:
1mm
0.1mm
0.5mm
0.8mm
第12题:
照相
录像
可剥性塑料薄膜
以上全是
第13题:
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?
第14题:
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求?
第15题:
JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。
第16题:
记录缺陷磁痕的常用方法有()、()、()和()等
第17题:
JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
第18题:
JB/T4730-2005规定:着色渗透检测时,缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图进行标示。
第19题:
对
错
第20题:
第21题:
相关显示
非相关显示
伪显示
以上都是
第22题:
第23题:
对
错