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二次电子图像衬度是质厚衬度

题目

二次电子图像衬度是质厚衬度

相似考题

1.透射电镜图像的衬度与样品成分无关。()

2.质厚衬度

3.何谓衬度？透射电镜有几种衬度像？其原理是什么？

4.选择小焦点的X射线管目的是为了获得（）A、衬度高的图像B、底片黑度大的图像C、分辨力高的图像D、清晰度高的影像

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  • 第1题：

    问答题
    简要分析4种电子显微衬度像的衬度来源。

    正确答案： 1）质厚衬度：是由于材料的质量厚度差异造成的透射束强度的差异而产生的衬度（主要用于非晶材料）。
    2）衍射衬度：由于试样各部分满足布拉格条件的程度不同以及结构振幅不同而产生的（主要用于晶体材料）。
    3）相位衬度：试样内部各点对入射电子作用不同，导致它们在试样出口表面上相位不一，经放大让它们重新组合，使相位差转换成强度差而形成的。
    4）原子序数衬度：是SEM/TEM中由于试样表面物质原子序数（或化学成分）差别而形成的衬度。
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  • 第2题：

    问答题
    透射电子显微镜的衬度形成原因是什么？种类有哪些？为什么将散射衬度也称为质量－厚度衬度？

    正确答案： （1）衬度是指图像上的明暗差异，是在物镜的背焦面上通过物镜光阑选择衍射斑成像的结果。
    （2）包括散射衬度、衍射衬度和相位衬度。
    （3）散射衬度是由于试样各部位对电子的散射能力不同引起的，与试样的质量和厚度有关，因此又称质量-厚度衬度。衍射衬度是由于晶体取向不同引起的。相位衬度是由于电子波相位不同引起的。
    解析： 暂无解析

  • 第3题：

    问答题
    TEM、SEM图像衬度原理分别是什么

    正确答案： TEM：由于穿过试样各点后电子波的相位差情况不同，在像平面上电子波发生干涉形成的合成波色不同，形成图像上的衬度
    SEM：背散射电子能量高，以直线轨迹溢出样品表面，背向检测器的表面无法收集电子变成阴影，可以分析凹面样品
    解析： 暂无解析

  • 第4题：

    问答题
    什么是衍射衬度？它与质厚衬度有什么区别？

    正确答案： 由样品各处衍射束强度的差异形成的衬度称为衍射衬度。或是由样品各处满足布拉格条件程度的差异造成的。对于晶体薄膜样品而言，厚度大致均匀，原子序数也无差别，因此，不可能利用质厚衬度来获得图象反差，这样，晶体薄膜样品成像是利用衍射衬度成像，简称“衍射衬度”非晶（复型）样品电子显微图像衬度是由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异而形成的，即质厚衬度，质厚衬度是建立在非晶样品中原子对电子的散射和透射电子显微镜小孔径成像的基础上的。
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  • 第5题：

    名词解释题
    质厚衬度

    正确答案： 由于试样的质量和厚度不同，各部分对入射电子发生相互作用，产生的吸收与散射程度不同，而使得透射电子束的强度分布不同，形成反差，称为质-厚衬度。
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  • 第6题：

    问答题
    简述什么是透射电子显微像中的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度。形成衍射衬度像和相位衬度像时，物镜在聚焦方面有何不同？为什么？

    正确答案： 质厚衬度：入射电子透过非晶样品时，由于样品不同微区间存在原子序数或厚度的差异，导致透过不同区域落在像平面上的电子数不同，对应各个区域的图像的明暗不同，形成的衬度。
    衍射衬度：由于样品中的不同晶体或同一晶体中不同部位的位向差异导致产生衍射程度不同而形成各区域图像亮度的差异，形成的衬度。
    相位衬度：电子束透过样品，试样中原子核和核外电子产生的库伦场导致电子波的相位发生变化，样品中不同微区对相位变化作用不同，把相应的相位的变化情况转变为相衬度，称为相位衬度。
    物镜聚焦方面的不同：透射电子束和至少一个衍射束同时通过物镜光阑成像时，透射束和衍射束相互干涉形成反应晶体点阵周期的条纹成像或点阵像或结构物象，这种相位衬度图像的形成是透射束和衍射束相干的结果，而衍射衬度成像只用透射束或者衍射束成像。
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  • 第7题：

    问答题
    何谓衬度？TEM能产生哪几种衬度象，是怎样产生的，都有何用途

    正确答案： 衬度是指图象上不同区域间明暗程度的差别。TEM能产生质厚衬度象、衍射衬度象及相位衬度象。质厚衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的，适用于对复型膜试样电子图象作出解释。晶体试样在进行电镜观察时，由于各处晶体取向不同和（或）晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布，这样形成的衬度，称为衍射衬度。衍衬技术被广泛应用于研究晶体缺陷。如果透射束与衍射束可以重新组合，从而保持它们的振幅和位相，则可直接得到产生衍射的那些晶面的晶格象，或者一个个原子的晶体结构象。这就是相位衬度象，仅适于很薄的晶体试样（≈100Å）。
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  • 第8题：

    问答题
    二次电子像反映试样的形貌像用什么衬度解释？

    正确答案： 二次电子像反映试样的形貌像用形貌衬度来解释。
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  • 第9题：

    问答题
    简述透射图像衬度的概念，TEM的主要图像衬度。

    正确答案： 衬度指试样不同部位由于对入射电子作用不同，经成像放大系统后，在显示装置上显示的强度差异，即图像上明暗的差异，按形成的机理可分为质量-厚度衬度、衍射衬度和相位衬度。
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  • 第10题：

    问答题
    扫描电镜图像的几种衬度是如何形成的？

    正确答案： 形貌衬度——由于试样表面形貌差别形成的衬度；
    原子序数衬度——由于试样表面物质原子序数Z差别而形成的衬度；
    电压衬度——试样表面电位差形成的衬度。
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  • 第11题：

    问答题
    简述图像衬度的概念。

    正确答案： 图像衬度是图像上不同区域间明暗程度的差别。由于图像上不同区域间存在明暗程度的差别即衬度的存在，才使得我们能观察到各种具体的图像。包括厚度衬度、衍射衬度、相位差衬度。
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  • 第12题：

    问答题
    简述何谓衬度？TEM能产生哪几种衬度象，是怎样产生的，都有何用途

    正确答案： 衬度是指图象上不同区域间明暗程度的差别。TEM能产生质厚衬度象、衍射衬度象及相位衬度象。质厚衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的，适用于对复型膜试样电子图象作出解释。晶体试样在进行电镜观察时，由于各处晶体取向不同和(或)晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布，这样形成的衬度，称为衍射衬度。衍衬技术被广泛应用于研究晶体缺陷。如果透射束与衍射束可以重新组合，从而保持它们的振幅和位相，则可直接得到产生衍射的那些晶面的晶格象，或者一个个原子的晶体结构象。这就是相位衬度象，仅适于很薄的晶体试样(≈100Å)。
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  • 第13题：

    单选题
    当第二相粒子与基体呈共格关系时，此时的成像衬度是（）。
    A

    质厚衬度；

    B

    衍衬衬度；

    C

    应变场衬度；

    D

    相位衬度。


    正确答案： C
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  • 第14题：

    问答题
    简述什么是衍射衬度？它与质厚衬度有什么区别？

    正确答案： 由于样品中不同位相的衍射条件不同而造成的衬度差别叫衍射衬度。
    它与质厚衬度的区别：
    （1）、质厚衬度是建立在原子对电子散射的理论基础上的，而衍射衬度则是利用电子通过不同位相晶粒是的衍射成像原理而获得的衬度，利用了布拉格衍射角。
    （2）质厚衬度利用样品薄膜厚度的差别和平均原子序数的差别来获得衬度，而衍射衬度则是利用不同晶粒的警惕学位相不同来获得衬度。
    （3）质厚衬度应用于非晶体复型样品成像中，而衍射衬度则应用于晶体薄膜样品成像中。
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  • 第15题：

    问答题
    扫描电镜图像的衬度有哪几种？这几种衬度是如何形成的？

    正确答案： 扫描电镜像的衬度根据其形成的依据，可分为：形貌村度；原子序数衬度；电压衬度。
    形貌衬度——由于试样表面形貌差别形成的衬度；
    原子序数衬度——由于试样表面物质原子序数Z差别而形成的衬度；
    电压衬度—试样表面电位差形成的衬度。
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  • 第16题：

    单选题
    扫描电镜的衬度不包括（）
    A

    形貌衬度

    B

    原子序数衬度

    C

    电压衬度

    D

    相位衬度


    正确答案： A
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  • 第17题：

    问答题
    二次电子像和背散射电子像在显示表面形貌衬度时有何相同与不同之处？

    正确答案： 二次电子像：
    1）凸出的尖棱，小粒子以及比较陡的斜面处SE产额较多，在荧光屏上这部分的亮度较大。
    2）平面上的SE产额较小，亮度较低。
    3）在深凹槽底部尽管能产生较多二次电子，使其不易被控制到，因此相应衬度也较暗。
    背散射电子像：
    1）用BE进行形貌分析时，其分辨率远比SE像低。
    2）BE能量高，以直线轨迹逸出样品表面，对于背向检测器的样品表面，因检测器无法收集到BE而变成一片阴影，因此，其图象衬度很强，衬度太大会失去细节的层次，不利于分析。因此，BE形貌分析效果远不及SE，故一般不用BE信号。
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  • 第18题：

    问答题
    简述SEM图像衬度的产生原因、类型及主要特点。

    正确答案： （1）SEM像衬度的形成主要基于样品微区如表面形貌、原子序数、晶体结构、表面电场和磁场等方面存在着差异。入射电子与之相互作用，产生各种特征信号，其强度就存在着差异，最后反映到显像管荧光屏上的图像就有一定的衬度。
    （2）表面形貌衬度；映试样表面形貌特点，分辨率高，无明显阴影效应，场深大，立体感强，适用于粗糙表面及断口的形貌观察。（主要为二次电子扫描图像）
    原子序数衬度：原子序数大，亮度高。（主要为背散射电子、吸收电子图像）
    解析： 暂无解析

  • 第19题：

    问答题
    透射电镜衬度的质厚衬度和衍射衬度和相位衬度各适用于什么材料？

    正确答案： （1）质厚衬度：适用于非晶体薄膜和复形膜试样所成的图像解释；
    （2）衍射衬度和相位衬度：适用于晶体薄膜试样所成图像的解释。
    解析： 暂无解析

  • 第20题：

    单选题
    以下不是TEM的基本成像原理的是（）
    A

    衍射衬度

    B

    散射衬度

    C

    相位衬度

    D

    反射衬度


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    问答题
    简述扫描电镜图像衬度的产生原因、类型及主要特点。

    正确答案： SEM像衬度的形成主要基于样品微区如表面形貌、原子序数、晶体结构、表面电场和磁场等方面存在着差异。入射电子与之相互作用，产生各种特征信号，其强度就存在着差异，最后反映到显像管荧光屏上的图像就有一定的衬度。
    （1）二次电子像：分辨率高，立体感强，主要反映形貌特征。图像衬度主要是形貌衬度、成分衬度和电位衬度。
    （2）背散射电子像：分辨率低，立体感差，但既能反映形貌特征，又能定性探测元素分布。图像衬度有形貌衬度和原子序数衬度（化学成分衬度）。
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    问答题
    扫描电镜图像的衬度有哪几种？

    正确答案： 扫描电镜像的衬度根据其形成的依据，可分为：形貌村度；原子序数衬度；电压衬度。
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  • 第23题：

    问答题
    二次电子像主要反映试样的什么特征？用什么衬度解释？该衬度的形成主要取决于什么因素？

    正确答案： （1）二次电子像反映试样表面的形貌特征——形貌像。
    （2）形貌像用形貌衬度来解释。
    （3）形貌衬度的形成主要取决于试样表面相对于入射电子束的倾角。
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  • 第24题：

    问答题
    二次电子像的衬度和背射电子像的衬度各有啥特点？

    正确答案： 二次：特别适用于显示形貌衬度。一般来说，凸出的尖棱、小粒子、较陡斜面二次电子产额多，图像亮；平面上二次电子产额小，图像暗；凹面图像暗。（二次电子像形貌衬度的分辨率比较高且不易形成阴影）
    背散射电子：无法收集到背散射电子而成一片阴影，图像衬度大，会掩盖许多细节。
    解析： 暂无解析

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