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对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)

题目

对样品进行表面形貌分析时应使用()。

A、X射线衍射(XRD)

B、透射电镜(TEM)

C、扫描电镜(SEM)

相似考题

1.2、表面形貌分析的手段包括（)。A．X 射线衍射（XRD）和扫描电镜（SEM）B．SEM 和透射电镜（TEM）C．波谱仪（WDS）和 X 射线光电子谱仪（XPS）D．扫描隧道显微镜（STM）和SEM

2.使用X射线衍射仪测试，只有平行于样品表面的晶面的衍射线才能被接收到。

3.2、测量生物医学材料的钙化情况，若不允许将体内样品取出进行分析时，可通过以下哪种方法进行？A．扫描电镜观察B．X射线成像检测C．透射电镜观察D．X射线衍射技术

4.18、使用X射线衍射仪测试，只有平行于样品表面的晶面的衍射线才能被接收到。（）

参考答案和解析
参考答案：C
更多“对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM) ”相关问题

  • 第1题：

    下列说法正确的是（）。

    A．TEM，接收透射电子，观察样品的形貌、结构、粒径。

    B．SEM，可接收二次电子、背散射电子观察形貌、成分。

    C．TEM要求样品非常薄。SEM要求样品具有良好导电性。

    D．EDS，可作为透射电镜和扫描电镜的附件使用，分析样品的成分。


    错误

  • 第2题：

    SEM可以表征纳米材料表面形貌，分辨率高于TEM


    TEM;AFM;SEM;STM

  • 第3题：

    13、使用X射线衍射仪测试，只有平行于样品表面的晶面的衍射线才能被接收到。


    根据探测器在测角仪上的位置确定的,探测器位置不同,角度不同。

  • 第4题：

    电镜-能谱分析方法是将EDS能谱仪和扫描电镜或者透射电镜联用，在真空室下用电子束轰击样品表面，激发物质发射出特征X射线进行定性与半定量分析物质元素。


    犯罪分子身上及作案工具上的微量物证和金属断口的形态观察;电击伤、爆炸残留物的形态及成分分析;印泥印文与笔划的先后顺序判别;毒物分析

  • 第5题：

    介孔材料的性质表征包括两个部分，即骨架部分和孔道部分，下列是对孔道进行表征的是（）。

    A．SEM获得材料的形貌

    B．TEM表征结构

    C．HRTEM表征孔的尺寸和形状

    D．粉末X-射线衍射（XRD）表征化学组成


    HRTEM 表征孔的尺寸和形状

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