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更多“18、使用X射线衍射仪测试,只有平行于样品表面的晶面的衍射线才能被接收到。()”相关问题
  • 第1题:

    波长为λ的X射线,投射到晶体常数为d的晶体上,取k=0,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为:

    A. 2dsinθ = kλ
    B. dsinθ= kλ
    C. 2dcosθ= kλ
    D. dcosθ = kλ

    答案:A
    解析:
    根据布拉格公式:2dsinφ=kλ(k= 0,1,2,3,…)。

  • 第2题:

    X射线衍射的布拉格方程中,d(hkl)为
    A .某一点阵面的晶面间距 B . X射线的波长 C .衍射角 D .衍射强度 E .晶格中相邻的两质点之间的距离


    答案:A
    解析:
    A
    [解析]本题考查布拉格方程各参数的物理意义。
    中国药典05版附录IX FX射线粉末衍射法。一束准直的单色X射线照射旋转单晶或粉末晶体时,便发生衍射现象,发生衍射的条件应符合布拉格方程,式中dhkl为面间距(hkl为晶面指数)。注:2007年大纲与 《应试指南》对此点已不要求。

  • 第3题:

    X-射线衍射可用来测试的样品有()

    • A、粉末;
    • B、薄片;
    • C、薄膜;
    • D、都可以

    正确答案:D

  • 第4题:

    焦炭的结构介于无定形结构和石墨结构之间,为无序叠合的乱层结构,其石墨化度只有在()以上才能用X射线衍射仪进行检验。

    • A、700℃
    • B、800℃
    • C、900℃
    • D、1000℃

    正确答案:D

  • 第5题:

    X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?


    正确答案: 对分析面的要求是表面平整、纹路一致、光洁度高、无气孔、无裂纹、无夹渣。

  • 第6题:

    比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。


    正确答案:多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理,多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布,因此只需要测角仪与样品检测器为θ~2θ联动,就可检测到晶体参数;而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动,调整单晶的各个晶面产生衍射,检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数,主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布,进而推断出分子的结构。

  • 第7题:

    实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射,下列能够产生X射线的仪器是()。

    • A、X射线衍射仪 
    • B、721分光光度计 
    • C、X射线荧光分析仪 
    • D、气相色谱

    正确答案:A,C

  • 第8题:

    布拉格公式规定了X射线在晶体中产生衍射的必要条件,即只有在d、θ、λ同时满足公式2dsin0=nλ时,晶体才能对X射线产生()。

    • A、衍射
    • B、反射
    • C、折射
    • D、透射

    正确答案:A

  • 第9题:

    判断题
    在样品台转动的工作模式下,X射线衍射仪探头转动的角速度是样品转动角速度的二倍。
    A

    B


    正确答案:
    解析: 暂无解析

  • 第10题:

    多选题
    实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射,下列能够产生X射线的仪器是()。
    A

    X射线衍射仪 

    B

    721分光光度计 

    C

    X射线荧光分析仪 

    D

    气相色谱


    正确答案: A,B
    解析: 暂无解析

  • 第11题:

    问答题
    比较仪器结构比较多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪的异同。

    正确答案: 多晶X射线衍射仪与四圆单晶X射线衍射仪均基于晶体衍射原理,多晶X射线衍的特点是各种晶面的随机分布,因此只需要测角仪与样品检测器为θ~2θ联动,就可检测到晶体参数;而四圆单晶X射线衍射仪则需要样品台四园联动联动,调整单晶的各个晶面产生衍射,检测的目的不仅仅是获得晶体的各种晶体参数,主要是通过晶体衍射测定分子电子云密度分布,进而推断出分子的结构。
    解析: 暂无解析

  • 第12题:

    问答题
    试从入射光束、样品形状、成相原理、衍射线记录、衍射花样、样品吸收与衍射强度(公式)、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜的异同点。

    正确答案: 入射X射线的光束:都为单色的特征X射线,都有光栏调节光束。
    不同:衍射仪法:采用一定发散度的入射线,且聚焦半径随2θ变化,德拜法:通过进光管限制入射线的发散度。试样形状:衍射仪法为平板状,德拜法为细圆柱状。试样吸收:衍射仪法吸收时间短,德拜法吸收时间长,约为10~20h。记录方式:衍射仪法采用计数率仪作图,与计算机连接可实现自动记录和衅谱处理,德拜法采用环带形底片成相,而且它们的强度(I)对(2θ)的分布(I-2θ曲线)也不同,衍射仪图谱中强度或直接测量精度高,且可获得绝对强度;衍射装备:衍射仪结构复杂成本高,德拜法结构简单造价低;应用:衍射仪与计算机连接,通过许多软件可获得各种信息而得到广泛应用。
    解析: 暂无解析

  • 第13题:

    波长为λ的X射线,投射到晶格常数为d的晶体上,取k=1,2,3...,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的射线与晶面的夹角)满足的公式为:
    (A)2dsinθ=kλ (B)dsinθ=kλ(C)2dcosθ=kλ (D)2dcosθ=kλ


    答案:A
    解析:

  • 第14题:

    实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射,下列能够产生X射线的仪器是()

    • A、X射线衍射仪
    • B、721分光光度计
    • C、液相色谱
    • D、气相色谱

    正确答案:A

  • 第15题:

    一次X射线激发样品时最大的特点是样品被激后只发射()X射线。

    • A、特征
    • B、平行
    • C、散射
    • D、连续

    正确答案:A

  • 第16题:

    焦炭的石墨化度只有在()以上时才能用X射线衍射仪进行检验。

    • A、800℃
    • B、900℃
    • C、1000℃
    • D、1100℃

    正确答案:C

  • 第17题:

    只有X射线波长小于或等于()晶面间距时,才能产生衍射现象。

    • A、1倍
    • B、2倍
    • C、3倍

    正确答案:B

  • 第18题:

    波长为λ的X射线,投射到晶格常数为d的晶体上,取k=1,2,3,…,出现X射线衍射加强的衍射角θ(衍射的X射线与晶面的夹角)满足的公式为()。

    • A、2dsinθ=kλ
    • B、dsinθ=kλ
    • C、2dcosθ=kλ
    • D、dcosθ=kλ

    正确答案:A

  • 第19题:

    由于X射线安检仪显示的被检物图形是物体承受照射面的形状,因此要想获得最佳图像效果,必须使被检物的最大面积与X射线呈水平角度。


    正确答案:错误

  • 第20题:

    填空题
    X射线衍射方法有劳厄法、转晶法、粉晶法和()

    正确答案: 衍射仪法
    解析: 暂无解析

  • 第21题:

    问答题
    试述X射线衍射实验方法,粉末衍射仪的工作方式、工作原理。

    正确答案: 实验方法:粉末法、劳厄法和转晶法。
    粉末衍射仪的工总方式:连续式扫描、步进式扫描。
    工作原理:X射线粉末衍射仪用具有一定发散度的特征X光束照射多晶平板样品,多晶平板样品中一部分被照射的小晶粒的同名衍射晶面及其等同晶面所产生的衍射线将在适当的方位聚焦而形成衍射强峰,被聚焦的那一部分衍射线所对应的同名晶面或等同晶面与光源和接收狭缝处在同一聚焦圆周上。在测角仪扫描过程中,由光源狭缝、样品台轴心、和接收狭缝确定的聚焦园半径不断改变。但在样品一定深度范围内总是存在与聚焦圆吻合的弧面,由于“同一圆周上的同弧圆周角相等”,组成多晶样品的各小晶粒中,凡处于与聚焦圆吻合的弧面上的,满足衍射矢量方程的同名衍射晶面及其等同晶面所产生的衍射线都将在狭缝处聚焦,并因此形成衍射线强峰。
    解析: 暂无解析

  • 第22题:

    单选题
    实验人员都要注意防止被实验设备产生的X射线照射,下列能够产生X射线的仪器是()
    A

    X射线衍射仪

    B

    721分光光度计

    C

    液相色谱

    D

    气相色谱


    正确答案: D
    解析: 暂无解析

  • 第23题:

    填空题
    X射线衍射仪由X射线发生器、()、()和()4个基本*部分组成,现代X射线衍射仪还配有控制操作和运行软件的计算机系统。

    正确答案: X射线测角仪,辐射探测器,辐射探测电路
    解析: 暂无解析

  • 第24题:

    问答题
    简述从X射线衍射图谱中可以知道被检测样品那些结构信息?

    正确答案: X射线衍射图谱具有3要素,衍射线的位置、强度以及线型,从这些要素中我们可以获得以下关于晶体信息:物相分析;点阵参数,膨胀系数测定;晶体取向和点阵畸变;多晶材料中的层错几率;晶粒尺寸和多晶织构;残余应力测定等信息。
    解析: 暂无解析