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X射线萤光光谱分析样品时对样品有损伤。此题为判断题(对，错)。

题目

X射线萤光光谱分析样品时对样品有损伤。

此题为判断题(对，错)。

相似考题

1.对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)

2.X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。

3.X射线光管发出的X射线与样品的（hkl)晶面衍射线（圆周角)均为 ，故样品各处之（hkl)晶面衍射线聚焦于一点F。

4.X射线萤光光谱分析法的优点是()快,()简单,()好,()宽。

参考答案和解析
正确答案：×
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  • 第1题：

    X射线荧光光谱分析中，X光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长时才能激发样品


    A

  • 第2题：

    37、X射线荧光光谱分析中，X光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长时才能激发样品。


    正确

  • 第3题：

    【填空题】化学分析、光谱分析、X射线荧光光谱分析、X射线微区域分析等均可测定样品的元素组成，但 却可鉴别样品中的物相。


    A

  • 第4题：

    1、X射线可以分析的样品种类不包括

    A．薄膜样品

    B．液体样品

    C．块体样品

    D．粉末样品


    B

  • 第5题：

    6、由X射线管发出的一次X 射线激发样品，是样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。

    A．光子

    B．荧光

    C．光谱

    D．线束


    B

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