X线头影测量主要应用于
A.研究颅面生长发育
B.骨龄的确定
C.错畸形的诊断分析
D.正畸矫治的前后对照
E.正颌外科
第1题:
第2题:
第3题:
第4题:
第5题:
第6题:
第7题:
不属于X线头影测量主要用途的是()
第8题:
不属于X线头影测量可做的分析是()
第9题:
研究颅面生长发育常用的研究方法是()
第10题:
研究颅面生长发育
牙颌面畸形诊断分析
了解患者的骨龄
错治疗方案设计
评估治疗结果
第11题:
颅面部生长发育
双侧髁突对称性
牙、牙合、面畸形的机制分析
外科正畸的诊断和分析
矫治前后牙合、颅面结构变化
第12题:
第13题:
第14题:
第15题:
第16题:
第17题:
X线头影测量术主要用于检查:()
第18题:
X线头影测量可做如下分析,除了().
第19题:
不属于X线头影测量可做的分析是()
第20题:
颅面部生长发育
双侧髁突对称性
牙、、面畸形的机制分析
外科正畸的诊断和分析
矫治前后、颅面结构变化
第21题:
颅面部生长发育
双侧髁突对称性
牙、合、面畸形的机制分析
外科正畸的诊断和分析
矫治前后牙合、颅面结构变化