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电子元器件的寿命试验属于（ ）。 A.全数检验 B.破坏性试验 C.最终检验 D.流动检验

题目
电子元器件的寿命试验属于（ ）。
A.全数检验 B.破坏性试验 C.最终检验 D.流动检验

相似考题

1.采用电子管作为主要电子元器件的计算机，属于第几代计算机?A．一B．二C．三D．四

2.()概念,一般只在电子产品生产企业供应链范围内应用。A.狭义的电子元器件B.通义的电子元器件C.广义的电子元器件D.以上都不对

3.为电子整机服务的单体,如板机产品、电子板件等产品属于()。A.电子零部件B.电子元器件C.电子材料D.其他电子产品

4.电子元器件的寿命试验属于( )。A．全数检验B．破坏性试验C．最终检验D．流动检验

参考答案和解析
答案：B
解析：
破坏性检验是指将被检样品破坏（如在样品本体上取样）后才能进行检验；或者在检验过程中，被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验包括：①零件的强度试验； ②电子元器件的券命试验；③电器产品的周期湿热试验；④纺织品或材料的强度试验等等。
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  • 第1题：

    电子元器件一般分为()。

    A、耗能元器件、储能元器件和结构元器件

    B、有源器件和无源器件

    C、耗能元器件和储能元器件

    D、器件和元件


    参考答案：B

  • 第2题：

    一般情况下，电子元器件的寿命试验属于（ ）。

    A.非破坏性检验

    B.破坏性检验

    C.全数检验

    D.感官检验


    正确答案：B
    B。

  • 第3题：

    在电子元器件中，常在一个预应力下进行元器件的筛选试验，淘汰那些可靠性经不起考验的元器件。其采用的可靠性技术是( )。

    A.冗余技术
    B.预应力筛选
    C.应力一强度设计
    D.潜在通路分析

    答案：B
    解析：

  • 第4题：

    电子元器件的可靠性分为固有可靠性和（）

    • A、短期可靠性
    • B、长期可靠性
    • C、使用可靠性
    • D、寿命可靠性

    正确答案:C

  • 第5题：

    试总结电子元器件大致分为几代；对电子元器件的主要要求是什么？


    正确答案: 电子元器件大致分为三代：
    电子管时代，半导体晶体管时代，半导体集成电路时代。对电子元器件的主要要求是：可靠性高、精确度高、体积微小、性能稳定、符合使用环境条件等。

  • 第6题：

    对于二次回路的交流耐压试验，当回路中有电子元器件设备时，应将插件拔出或将其两端短接。


    正确答案:正确

  • 第7题：

    电容为耗能电子元器件。（）


    正确答案:错误

  • 第8题：

    电子设备主要是由电子元器件组成，电子元器件是构成电子设备最小和最（）的单元。

    • A、精确
    • B、基本
    • C、典型
    • D、常用

    正确答案:B

  • 第9题：

    假设某产品由20000个电子元器件串联组成，其寿命服从指数分布，如果要求其连续不间断工作3年的可靠度为0.8，元器件的平均故障率为（）。


    正确答案:每千万小时1.5

  • 第10题：

    （）不属于静电对电子元器件的三种影响。

    • A、吸引或排斥
    • B、静电吸附灰尘，降低元器件绝缘电阻
    • C、静电放电破坏，使元件受损不能工作
    • D、ESD产生的电磁场幅度很大频谱极宽，对电子器件造成干扰甚至破坏

    正确答案:A

  • 第11题：

    单选题
    电子元器件的寿命试验属于（　　）。
    A

    全数检验

    B

    破坏性试验

    C

    最终检验

    D

    流动检验


    正确答案： C
    解析： 破坏性检验是指将被检样品破坏（如在样品本体上取样）后才能进行检验；或者在检验过程中，被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验包括:①零件的强度试验；②电子元器件的寿命试验；③电器产品的周期湿热试验；④纺织品或材料的强度试验等等。

  • 第12题：

    填空题
    假设某产品由20000个电子元器件串联组成，其寿命服从指数分布，如果要求其连续不间断工作3年的可靠度为0.8，元器件的平均故障率为（）。

    正确答案： 每千万小时1.5
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    下列检验中，属于专检进行的破坏性检验的有（ ）。

    A.产品最终尺寸检验

    B.电子元器件的寿命试验

    C.产品冲击试验

    D.过程检验

    E.电器产品周期湿热试验


    正确答案：BCE
    BCE。

  • 第14题：

    下列检验中属于专检进行的破坏性检验的是（ ）。[2008年真题]
    A.产品最终尺寸检验 B.电子元器件的寿命试验
    C.产品冲击试验 D.过程检验
    E.电器产品周期湿热试验


    答案：B,E
    解析：
    破坏性检验是指将被检样品破坏（如在样品本体上取样）后才能进行检验；或者在检验过程中，被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验如零件的强度试验，电子元器件的寿命试验，电器产品的周期湿热试验，纺织品或材料的强度试验等。进行破坏性检验后，无法实现对该样品进行重复检验，而且一般都丧失了原有的使用价值。

  • 第15题：

    电子快门指的是哪个元器件的什么参数？


    正确答案:电子快门指的是CCD扫描速度，通常是从1/10000秒到1/50秒，也有些能做到更快或更慢。当速度为1/10000秒时，表示CCD扫描完成一场图像所需的时间为1/10000秒。扫描的速度会影响成像的亮度，扫描速度越高，成像亮度越低，扫描速度越低，成像亮度越高。另外，扫描速度会影响对高速运动物体的成像，物体在高速运动过程中成像在低速扫描中会形成拖影造成成像模糊，在高速扫描中成像快，拖影减少，监视运动物体最好选择较好的光线条件及较快的电子亮度。

  • 第16题：

    电子元器件的规格参数有哪些？


    正确答案: 电子元器件的规格参数包括标称值、允许偏差值和额定值、极限值等以外，还有其特定的规格参数。

  • 第17题：

    程控机房的温度（），导致电子元器件的性能劣化，降低使用寿命。

    • A、偏低
    • B、偏高
    • C、正常
    • D、随机而定

    正确答案:B

  • 第18题：

    电子元器件在焊接前要预先把元器件引线弯曲成一定的形状，提高电子设备的防震性和可靠性。


    正确答案:正确

  • 第19题：

    用加热模拟法进行故障诊断时，不可直接加热（），加热温度不得高于80℃。

    • A、ECU
    • B、电子元器件
    • C、ECU中的电子元器件

    正确答案:C

  • 第20题：

    绝缘电阻表被测部分有如低压的电子元器件，应将它们的插件板（），以免损坏电子元器件。

    • A、更换
    • B、绝缘
    • C、屏蔽
    • D、拆掉

    正确答案:D

  • 第21题：

    对于电子元器件来说，寿命结束，叫做失效。（）


    正确答案:正确

  • 第22题：

    判断题
    对于电子元器件来说，寿命结束，叫做失效。（）
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    多选题
    下列检验中属于专检进行的破坏性检验的是（　　）。[2008年真题]
    A

    产品最终尺寸检验

    B

    电子元器件的寿命试验

    C

    产品冲击试验

    D

    过程检验

    E

    电器产品周期湿热试验


    正确答案： E,D
    解析： 破坏性检验是指将被检样品破坏（如在样品本体上取样）后才能进行检验；或者在检验过程中，被检样品必然会损坏和消耗。破坏性检验如零件的强度试验，电子元器件的寿命试验，电器产品的周期湿热试验，纺织品或材料的强度试验等。进行破坏性检验后，无法实现对该样品进行重复检验，而且一般都丧失了原有的使用价值。

  • 第24题：

    单选题
    用加热模拟法进行故障诊断时，不可直接加热（），加热温度不得高于80℃。
    A

    ECU

    B

    电子元器件

    C

    ECU中的电子元器件


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

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