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关于Cp与Cpk的说法，正确的有（ ）。A.只有在过程处于统计控制状态才能计算B.Cp仅能用于双侧规范限的情况C.Cpk可以反映过程中心的偏移D.一般来说，Cpk不大于CpE.在过程能力分析时只考虑其中一个即可

题目

关于Cp与Cpk的说法，正确的有（ ）。

A.只有在过程处于统计控制状态才能计算

B.Cp仅能用于双侧规范限的情况

C.Cpk可以反映过程中心的偏移

D.一般来说，Cpk不大于Cp

E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可

相似考题

1.下列有关Cp，Cpk的叙述正确的是( )。A．Cp——无偏移短期过程能力指数，Cpk——有偏移短期过程能力指数B．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——有偏移短期过程能力指数C．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——无偏移下单侧短期过程能力指数D．Cp——无偏移上单侧短期过程能力指数，Cpk——有偏移下单侧短期过程能力指数

2.关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c，E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

3.某轴承轴径的规范限为6.8±0.1mm，其在统计控制状态下服从N(6.75，0.022)，则下列说法中，正确的有（ ）。A.Cp=l.0B.Cp=1.67C.Cpk=1.67D.CpK=0.83E.CpK=0.5

4.根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

更多“关于Cp与Cpk的说法,正确的有( )。A.只有在过程处于统计控制状态才能计算B.Cp仅能用于双 ”相关问题

  • 第1题：

    关于过程能力及过程能力指数的说法，正确的有（ ）。

    A.过程能力的大小与公差无关

    B.Cp等于公差除以3倍的过程质量特性标准差

    C.Cp值越大，表明过程质量特性的离散程度越大

    D.Cp与CpK的差反映了过程分布中心与规范中心的偏离程度

    E.Cp=l时，99.73％的过程输出将在规范范围内


    正确答案：AD
    选项E错误，只有Cp=Cpk=1时，99.73％的过程输出将在规范范围内。

  • 第2题：

    关于统计控制状态，下列说法正确的有( )。

    A．统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态

    B．控制状态是生产追求的目标，因为在控制状态下，对产品的质量有完全的把握

    C．通常控制图的控制界限都在规范限之内，故至少有99.73%的产品是合格品

    D．在控制状态下生产的不合格品最少，生产最经济

    E．统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态


    正确答案：ABCD
    解析：统计控制状态(简称控制状态)是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态。控制状态是生产追求的目标，在控制状态下的好处有：①对产品的质量有完全的把握(通常控制图的控制界限都在规格限之内，故至少有的99.73%的产品是合格的)；②在控制状态下生产的不合格品最少，生产最经济；③在控制状态下，过程的变异最小。

  • 第3题：

    关于过程能力分析和过程性能分析的说法，正确的有（ ）。
    A.一般来说，过程能力指数Cpk不小于过程性能指数Ppk
    B.过程性能指数只有在过程处于统计控制状态时才能计算
    C.过程性能指数可以反映实际状态
    D.与数据不是按照时间顺序收集时，计算过程能力指数没有意义
    E.当过程能力指数远大于过程性能指数时，说明过程的管理有待加强


    答案：A,C,D,E
    解析：
    。过程能力分析反映过程处于统计控制状态（仅受偶然因素影响）下输出满足要求的程度，过程性能分析反映长期实际生产中输出满足要求的情况。

  • 第4题：

    工作人员收集了手表厂螺栓扭矩去年全年的监测数据，计算得样本标准差为5。工艺要求螺栓扭矩的规范上限是180，规范下限是140，则关于该过程的说法，正确的是（ ）。
    A.过程能力指数为1. 33 B.过程性能指数为1. 33
    C.过程处于统计控制状态 D.过程未处于统计控制状态


    答案：B
    解析：

  • 第5题：

    均值控制图显示最近有连续9个点落在中心线的同一侧，但均在控制限内，这说明（ ）。
    A.过程失控，过程中心出现系统偏移，应查找原因，及时纠正
    B.过程输出呈现趋势性变化，应重新计算控制界限
    C.样本点均在控制限内，过程处于统计控制状态
    D.过程受控，不会影响Cp和Cpk


    答案：A
    解析：

  • 第6题：

    关于过程状态的说法，正确的有（ ）。

    A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小

    B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变

    C.过程处于统计控制状态时，CP≥1

    D.异常因素会导致过程失控

    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态


    答案：A,B,D
    解析：
    。处于统计控制状态，只是表明此时可估计过程保证质量的水平，但不能说明过程能力指数大于等于1。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内时，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第7题：

    关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。

    A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内

    B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布

    C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态

    D.统计控制状态是指过程能力充足的状态

    E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态


    答案：A,B,C
    解析：
    。统计控制状态下的过程并不一定过程能力充足。

  • 第8题：

    加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：
    μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。
    根据上述计算结果，判断过程（）。
    A.处于统计控制状态和技术控制状态
    B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
    C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
    D.未处于统计控制状态和技术控制状态


    答案：B
    解析：

  • 第9题：

    以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）

    • A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态
    • B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动
    • C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内
    • D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

    正确答案:C

  • 第10题：

    单选题
    对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）
    A

    根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率

    B

    根据Cp和Cpk都能估计缺陷率

    C

    缺陷率与Cp和Cpk无关

    D

    以上说法都不对


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    单选题
    加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。
    A

    过程处于统计控制状态和技术控制状态

    B

    过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态

    C

    过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态

    D

    过程未处于统计控制状态和技术控制状态


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    单选题
    下列关于SPC的目的和作用说法正确的是（）。
    A

    SPC的目的和作用是统计OOC/OOS，CP和CPK等指数

    B

    SPC的目的和作用是通过监控OOC/OOS，计算CP和CPK等指数，帮助工艺和生产人员采取适当之措施，实现过程的持续改进

    C

    SPC的目的和作用是实现OOC/OOS报警，计算CP和CPK，让生产人员忙个不停


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    关于统计控制状态的谫法，正确的有（ ）。

    A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内

    B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布

    C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态

    D.统计控制状态是指过程能力充足的状态

    E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态


    正确答案：ABC
    统计控制状态下的过程并不一定过程能力充足。

  • 第14题：

    关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。

    A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品

    B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于１

    C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态

    D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动

    E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的


    正确答案：CDE
    过程处于统计控制状态时，过程能力有可能不满足要求，所以选项A、B错误。

  • 第15题：

    关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。
    A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
    B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态
    C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进
    D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力
    E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态


    答案：B,D
    解析：
    。选项E错误，当控制图上所有点子都落在控制限内，且随机排列时，才可以判定过程处于统计控制状态。

  • 第16题：

    加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。
    下列推断中，正确的是（ ）。
    A.过程处于统计控制状态和技术控制状态
    B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态
    C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态
    D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态


    答案：B
    解析：
    。分析用控制图上未显示异常，表明过程处于统计控制状态。Cpk=2/3

  • 第17题：

    某产品关键尺寸的规范为2. 4±0. 005，由于该尺寸的加工合格率较低，车间专门成立了质量改进小组掌握关键尺寸的分布情况，分析合格率低的原因，并进一步采取相应的改进措施。

    为验证改进措施，小组收集了 30个尺寸数据绘制单值一移动极差控制图（见下图），从图中可以得出的结论有（ ）。

    A.过程处于统计控制状态 B.过程未处于统计控制状态
    C. Cp = Cpk = 1. 67 D. Cp = Cpk = 1. 33


    答案：A,C
    解析：

  • 第18题：

    某轴承轴径的规范限为6.8±0.1 mm，其在统计控制状态下服从N(6. 75，0.022)，则下列说法中，正确的有（）。
    A. Cp = 1. 0 B. Cp = 1. 67
    C. CpK = 1. 67 D. CpK = 0. 83
    E. CPK=0. 5


    答案：B,D
    解析：
    。Cp = T/6σ=0.2÷(6X0. 02) = 5/3。CpK = 0. 05÷ (3X0. 02) = 5/6。

  • 第19题：

    关于Cp与CpK的说法，正确的有（ ）。
    A.只有在过程处于统计控制状态才能计算
    B. Cp仅能用于双侧规范限的情况
    C. Cpk可以反映过程中心的偏移 D. —般来说，Cpk不大于Cp
    E.在过程能力分析时只考虑其中一个即可


    答案：A,C,D
    解析：
    。Cp既可用于双侧规范限，也可用于单侧规范限，选项B错误；Cp用于分析短期过程能力的大小，Cpk用于分析长期过程能力的大小，两者需结合考虑。

  • 第20题：

    关于CP、CPK的说法，正确的是（）

    • A、CP大于或等于CPK
    • B、CP大于或等于KCP
    • C、CP很大，CPK很小，说明过程的散布很小，均值偏离中心很大
    • D、CP很大，CPK很小，说明过程的散布很大，均值偏离中心很小

    正确答案:A,C

  • 第21题：

    对于正态分布的过程，有关Cp、Cpk和缺陷率的说法，正确的是（）

    • A、根据Cp不能估计缺陷率，根据Cpk才能估计缺陷率
    • B、根据Cp和Cpk都能估计缺陷率
    • C、缺陷率与Cp和Cpk无关
    • D、以上说法都不对

    正确答案:D

  • 第22题：

    单选题
    以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）
    A

    过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态

    B

    过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动

    C

    过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内

    D

    过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件


    正确答案： D
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    多选题
    关于过程能力(Cp)评级说法正确的是(    )
    A

    如果过程不处于受控状态，对Cp的计算没有意义

    B

    Cp＝1.00时，要求过程准确地集中在容差分布范围的均值处

    C

    Cp＝1.33时，生产所有单元处于规范限内的目标更容易实现

    D

    Cp＝1.5时，为Cp的“安全”下限

    E

    Cp＞1.5时，才能保证一个受控过程所生产的所有单元处于规范之内


    正确答案： A,C
    解析：

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