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tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A对B错

题目
tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。

A对

B错

相似考题

1.一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。A对B错

2.当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。A对B错

3.在现场测量小电容量试品的介质tanδ值时，受外界影响的因素很多，往往引入很多误差，这类试品主要是指（）。A、变压器B、耦合电容器C、电流互感器D、变压器套管

4.当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。A对B错

参考答案和解析
对
略
更多“tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。”相关问题

  • 第1题：

    变压器绕组连同套管的tanδ能发现变压器（）、严重的局部缺陷等。

    • A、局部受潮
    • B、整体赃污
    • C、整体受潮
    • D、局部受潮绝缘油劣化

    正确答案:C,D

  • 第2题：

    介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。


    正确答案:错误

  • 第3题：

    一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。


    正确答案:错误

  • 第4题：

    当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

    • A、良好绝缘
    • B、绝缘中存在气隙
    • C、绝缘受潮

    正确答案:C

  • 第6题：

    测量介质损耗因数，通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。

    • A、整体受潮
    • B、整体劣化
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:A,B,C

  • 第7题：

    通过测量（）可以检查被试品是否存在绝缘受潮和劣化等缺陷。

    • A、电感
    • B、电容
    • C、介质损耗角正切值

    正确答案:C

  • 第8题：

    简述测量小电容量试品绝缘电阻的操作步骤？


    正确答案: 测量小电容量试品绝缘电阻的操作步骤有：
    （1）把兆欧表放平；
    （2）E端钮接设备外壳（地）；
    （3）把L端钮引线接好；
    （4）驱动兆欧表；
    （5）检查兆欧表是否指零，再调指针至∞；
    （6）将L引线接至被试品；
    （7）读取绝缘电阻值。

  • 第9题：

    判断题
    一般来说，被试设备的体积电容愈大，或局部集中缺陷的范围愈小，总体tanδ的数值增加也就愈小，对缺陷的反映愈不灵敏。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    判断题
    tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    判断题
    当被试品具有较大电容时，tanδ测试不能有效反映试品中可能存在的局部缺陷。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    填空题
    tanδ能反映绝缘的（）和小电容试品中的严重（）。由随（）的变化曲线，可判断绝缘是否受潮、含有气泡及老化的程度。

    正确答案： 整体性缺陷,局部性缺陷,电压
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    测量介质损耗因数，通常不易发现（）。

    • A、整体受潮
    • B、绝缘油劣化
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:D

  • 第14题：

    当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。


    正确答案:正确

  • 第15题：

    当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。


    正确答案:正确

  • 第16题：

    tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。


    正确答案:正确

  • 第17题：

    测量介质损耗因数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）

    • A、整体受潮
    • B、整体劣化
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:D

  • 第18题：

    测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是（）。

    • A、贯穿性缺陷
    • B、整体受潮
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:A,B,C

  • 第19题：

    测量变压器绕组的介损tanδ，可以检查油质是否劣化，绝缘表面是否附着油泥或污秽，以及严重局部缺陷等。


    正确答案:正确

  • 第20题：

    测量介质损耗因数，对发现以下哪些缺陷较为有效？（）

    • A、整体受潮
    • B、绝缘油劣化
    • C、小体积试品的局部缺陷
    • D、大体积试品的局部缺陷

    正确答案:A,B,C

  • 第21题：

    单选题
    tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）
    A

    良好绝缘

    B

    绝缘中存在气隙

    C

    绝缘受潮


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    单选题
    测量介质损耗 数，通常不能发现的设备绝缘缺陷是（）
    A

    整体受潮

    B

    整体劣化

    C

    小体积试品的局部缺陷

    D

    大体积试品的局部缺陷


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    判断题
    当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

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