niusouti.com

当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。A对B错

题目
当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。

A对

B错

相似考题

1.当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。A对B错

2.对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。A对B错

3.当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。A对B错

4.对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。A对B错

更多“当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。”相关问题

  • 第1题：

    当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。

    A对

    B错


    错
    略

  • 第2题：

    受潮前和受潮后的电气性能要求。绝缘杆的绝缘材料应进行（）长试品的（），包括干试验和受潮后的试验。


    正确答案:300mm；1min工频耐压试验

  • 第3题：

    当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。


    正确答案:正确

  • 第4题：

    当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。


    正确答案:错误

  • 第5题：

    对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。


    正确答案:错误

  • 第6题：

    试品绝缘表面脏污、受潮，在试验电压下产生表面泄漏电流，对试品tgδ和C测量结果的影响程度是（）

    • A、试品电容量越大，影响越大
    • B、试品电容量越小，影响越小
    • C、试品电容量越小，影响越大
    • D、与试品电容量的大小无关

    正确答案:C

  • 第7题：

    当断路器电容器的tanδ值不符合要求时，应综合分析tanδ与（）的关系，查明原因。

    • A、绝缘电阻
    • B、电流
    • C、电压
    • D、并联均压电容值

    正确答案:C

  • 第8题：

    判断题
    当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成反比。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第9题：

    单选题
    tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）
    A

    良好绝缘

    B

    绝缘中存在气隙

    C

    绝缘受潮


    正确答案： B
    解析： 暂无解析

  • 第10题：

    判断题
    对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。

  • 第11题：

    判断题
    当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    判断题
    当试品绝缘受潮时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    试验中有时发现绝缘电阻较低，泄漏电流大而被认为不合格的被试品，为何同时测得的tanδ值还合格呢？


    正确答案: 绝缘电阻较低，泄漏电流大而不合格的试品，一般表明在被试的并联等值电路中，某一支路绝缘电阻较低，而若干并联等值电路的tanδ值总是介于并联电路中各支路最大与最小tanδ值之间，且比较接近体积较大或电容较大部分的值，只有当绝缘状况较差部分的体积很大时，实测tanδ值才能反映出不合格值，当此部分体积较小时，测得整体的tanδ值不一定很大，可能小于规定值，对于大型变压器的试验，经常出现这种现象，应引起注意，避免误判断。

  • 第14题：

    当被试品具有较大电容时，tanδ测试只能反映整体的绝缘状况。


    正确答案:正确

  • 第15题：

    当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。


    正确答案:正确

  • 第16题：

    tanδ测试时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈开口环曲线，则试品属于（）。

    • A、良好绝缘
    • B、绝缘中存在气隙
    • C、绝缘受潮

    正确答案:C

  • 第17题：

    对于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而基本不变。


    正确答案:正确

  • 第18题：

    当试验电压U及电源频率ω一定、被试品的电容值也一定时，介质损耗P与tanδ成（）。

    • A、反比
    • B、正比
    • C、U形曲线比例关系

    正确答案:B

  • 第19题：

    当绝缘介质一定，外加电压一定时，介质损耗电流IR的大小与介质损耗正切值tanδ成（）。

    • A、反比
    • B、正比
    • C、U形曲线比例关系

    正确答案:B

  • 第20题：

    判断题
    对于良好绝缘的Tan6测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而降低。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 错
    解析： 暂无解析

  • 第21题：

    单选题
    于良好绝缘的tanδ测试，在额定电压以下时，随着试验电压U的升高而（）。
    A

    升高

    B

    降低

    C

    基本不变


    正确答案： A
    解析： 暂无解析

  • 第22题：

    判断题
    当试品绝缘中存在气隙时，随着试验电压U的变化，tanδ值呈闭合的环状曲线。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    填空题
    tanδ能反映绝缘的（）和小电容试品中的严重（）。由随（）的变化曲线，可判断绝缘是否受潮、含有气泡及老化的程度。

    正确答案： 整体性缺陷,局部性缺陷,电压
    解析： 暂无解析

相关内容